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镀层测厚元素分析检测仪

提供者:江苏天瑞仪器股份有限公司   发布时间:2020/6/24 10:55:09  阅读次数:3648次  进入该公司店铺

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刘**
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X射线镀层测厚仪THICK800A通过位置精度高的自动样品台和高灵敏度性能,可以对微小物体进行快速扫描和检测,也可对电子基板等符合材料制品的微小特定部位实施定点精确测量。

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创新技术

1. 国际领先的X射线微聚焦技术,可将测试X光斑缩小至50um,能够对微小镀件测量或同一镀件不同部位镀层厚度,以确定镀层均匀度和厚度分布

2. 高清双路光学辅助摄像系统,轻松确定微小测试区域

3. 定位精度≤0.01mm的全自动X、Y、Z三轴三维测样平台和激光对焦系统,保障了微小区域的精确对焦,实现对样品进行快速准确测量。

4. 智能分析软件,对样品光学图像进行处理,对检测位进行连续多点自动测量,大尺寸样品自动判断扫描区域,薄膜FP法使镀层、多层膜分析更方便精准。

5. Φ0.05mm,Φ0.5mm,Φ2mm,Φ4mm共4个准直器自动切换,既能满足微小样品的精确测量,又可实现常规样品的准确测试。

应用范围

工业防腐镀层、装饰镀层、电子器件功能镀层、优化机械性能镀层、薄膜分析......


Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

优质商品

X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪

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