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厚度、成分都能测的光谱仪

提供者:江苏天瑞仪器股份有限公司   发布时间:2019/12/12 11:16:59  阅读次数:3750次  进入该公司店铺

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刘**
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性能优势:1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器:S
  • 测量面积:最小0.03mm²
  • 镀层分析:23层镀层24种元素
  • 仪器特点:RoHS卤素有害元素检测
  • 仪器优势:同元素不同层分析
XAU-4CS光谱分析仪

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.独创的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

4.先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。

先进的EFP算法

天瑞仪器专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合光路转换的专利技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

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RoHS检测及标定

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X射线荧光光谱仪
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