冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介

GCWP-A

一、 概述：

高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。

电容保护功能

提供内置充电电容保护装置，防止仪器被电容损坏，具有高压倒灌保护装置

波形处理：峰值搜索和局部分析曲线放大分析功能

测量速度：测量速度快20s

数据处理：测量波形数据自动转换成CSV、BMP文件格式

扫描显示：50、100、200、400、800、1600

测量夹具：多种夹具可供客户选择；也可以为客户定制

仪器外观 ：长750mm(7.5")； 宽660mm(17.37")，高360mm(20.5")；重30Kg(32 lb)

通讯接口 ：USB、screen shot、LAN、VGA及GPIB接口

高温测量装置

测量温度：室温-1000℃

升温时间 ：室温-700℃升温时间为20分钟，室温-1000℃升温时间为40分钟，

升温斜率 ：2℃/min

控温精度 ：±1℃

控温方式 ：采用PID精确控温

高温样品杆 ：耐高温、1000℃不氧化、电极阻抗低、绝缘好

测试方法 ：两线法和四线法

绝缘材料 ：氧化铝陶瓷绝缘，特殊模具加工

高温炉尺寸：650mm(L)*430mm(W)*690mm(D)
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介

高温介电测量系统可用于分析宽频、高低温条件下被测样品的阻抗Z，电抗X，导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分测量样品随温度、频率变化的曲线。通过PST-Dconstant软件将这些变化曲线的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析进行分析测量，高温介电测量系统测量的频率从20Hz－－10MHz,测量的温度从室温－－1000℃。

目前高温介电测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

高温介电测量系统特点：

1、高温实现从室温到1000℃，升温斜率:2℃/min,控温精度:±1℃；

2、测量频率从20Hz-10MHz,测量精度0.05%；

3、高温介电测量系统采用铂金电极和引线,高温样品杆1000℃不氧化；

4、高温介电测量系统采用平行板电容器设计原理，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸；

5、高温介电测量系统采用特殊设计处理和软件补偿，解决了因测量导线过长造成的测量误差等问题；

6、高温介电测量系统采用进口可控硅和PID精确控温，发热功率800W；

7、样品杆采用特殊设计，样品损坏率低，并能与电极保持良好接触。

8、样品和样品杆之间经特殊设计及加工，绝缘性能优良，解决了在高温条件下样品和样品杆之间绝缘难的问题；

9、系统阻抗分析仪可以配置英国WK精密阻抗分析仪，可以配置Agilent4294A或E4980A；

10、中文软件操作界面，菜单便捷，使用方便；

11、丰富多样的曲线图输出，软件可提供温度谱、偏压谱、阻抗谱、频率谱、时间谱、介电谱、Cole-Cole图，可在多窗口之间方便切换；

12、一次扫描最多可达1600个点，具有线性和对数扫描；

13、提供-40V至+40V的直流偏置电压，可以测量样品C-V曲线；

14、数据可通过主机USB接口直接存储，也可通过GPIB接口和软件进行存储。

15、提供二年内免费功能升级的超值服务；

16、高温介电测量系统还可以扩展测量样品在变温条件下的I-V曲线、电阻率测量、热释电、磁电容等测量功能；

冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介产品优势:

1.耐高温、1000°C不氧化，电极阻抗低、绝缘好.

2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品，方便快捷

3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据

技术指标：

(1).测试温度范围-196-250℃，升温速率可控、测试温度跨度可选；

(2).4样品8频点同时测量，无需中途更换样品，测试误差不高于3%；

(3).测试速度快，全温度范围4样品8频点测试仅需150min;

(4).多功能测试，可实现材料研究的ε-D、Z-θ等12种参数的温/频谱测试，亦可实现元器件特定频段12种参数的精细化温/频谱测试；

(5).高安全性，测试完毕自动停止升温，可实现无人值守测试；

(6).实时控制、实时显示、实时数据计算、处理与存储;

(7).数据文件格式规范，可与主流数据分析软件兼容；

(8).高集成度，便于操作。
冠测高温介电温谱测量系统软件升级简介