一、镀层测厚仪的特性：

　　若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射，此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

　　镀层测厚仪在开始测试时候最好进行几次简单的测试工作，不仅是确保设备的可用性(正常性)，同时也检验镀层测厚仪各个接口是否符合标准;

二、镀层测厚仪的原理

1、首先对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的：

一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示：F▪I=C,(这里C是样品含量，F是光谱中此元素比例系数，I是此元素在光谱中的激发强度)，首先标样中已知C(此处用百分比表示)，将此标样放入光谱，按着测试条件开X射线激发标样，此时得到一个I的值，C/I=F(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。

之后，待测样品放入光谱，同样条件用X射线激发样品，获得待测样品的I值，用这个I值乘以之前得到的F值，F▪I=C 就能计算出此样品的含量C的值，这就是XRF测量元素含量的基本原理。

2、镀层测厚仪膜厚原理：

同理,Th=F▪I （这里Th是厚度，单位微米或其他长度单位）

首先也是用标样来标定，求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。

测试待测样品时，用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值，F▪I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。

　　以上内容是对镀层测厚仪技术特征上面的讲解，最后要提醒大家的是所得数据，不能只单看一面，要综合多方面的测试结果，从而合理判断，其中涉及到数据有MAX值、MIN值、误差值以及平均值等等。
江苏天瑞仪器股份有限公司是的镀层测厚仪生产企业， 产品打破了国外垄断局面，性价比，在行业内销量，分析仪器上市公司。公司专业生产镀层测厚仪，气相色谱质谱仪（GCMS）,五金镀层测厚仪，x射线测厚仪，ROHS检测仪，手持式ROHS光谱仪，手持式合金分析仪，ROHS检测设备，电镀层测厚仪，五金镀层测量仪，天瑞ROHS仪，X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年，以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步，目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务，是国内首家上市的分析仪器企业。