赛默飞原FEI扫描电镜 Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖部半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。

Verios 的生命科学应用

　　观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 至低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处理大量敏感的生物样本，并迅速生成高分辨率图像，从而洞察细胞器的关键功能和过程。

赛默飞原FEI扫描电镜 Verios XHR SEM优势

　　全新的高对比度检测器 - 对敏感的生物样本进行佳成像

　　电子束减速 - 在低的电压下提供高分辨率成像和高表面灵敏度

　　电子束熄灭装置 - 限制敏感的生物样本的剂量

　　静电扫描 - 大限度减少图像失真，并改善成像速度，从而进一步提高工作效率和质量

Verios 的电子工业应用

Verios XHR SEM 推出了全新的检测器硬件，将 SEM 的观测能力进一步拓展至 20 nm 亚纳米量半导体器件。Verios 可提供佳的低电压 SEM 分辨率和材料对比度，能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的小结构。Verios 还包括一些易于使用的新功能，能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供至低的每样本成像和测量成本。

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