日立分析仪器金属镀层测厚仪CMI243介绍_产品说明_仪器仪表技术文献

日立分析仪器金属镀层测厚仪CMI243介绍

提供者：北京智创翔和科技有限公司发布时间：2018/1/8 15:25:01 阅读次数：4355次进入该公司店铺

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日立分析仪器金属镀层测厚仪CMI243介绍
CMI243精密测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。

测量技术：一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的"升离效应"导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。而牛津仪器将最新的基于相位电涡流技术应用到CMI243镀层测厚仪，使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3%以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应最小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，镀层测厚仪一般不需要在铁质底材上进行校准。

便携式、无损测量各种金属镀层
精度高、稳定性好
测量精度可与X射线测厚仪媲美
可测量各种微型部件(φ2.5mm)

232接口，可连接打印机或电脑

探头	ECO-M锌镍均可测量
准确度	±1%
测量范围	0.08-1.50mils(2-38um)
分辨率	0.01mils(0.1um)
执行标准	ASTM B244-B259;DIN 50984;ISO 2360;ISO29168(DRAFT);BS 5411
单位	公、英制自动转换
统计数据显示	读取次数、平均值、标准差、最高值、最低值、最终值
记忆储存	12400个数据
接口	RS-232
显示	液晶显示，字符高12.7mm
电池	9V电池
外型尺寸	14.9X7.94X3.02cm
重量	260g(含电池)
品牌	英国牛津仪器
产地	美国