”选相应的产品程式。

2） 将样品置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。

3） 按显示屏左下角的按钮“开始（s）”或仪器控制台上的“START”键开始测量，倒计时结束后即完成一次测量。

3． 测量注意事项

1） 测量时间的选择。

测量时间越长稳定度越好。一般来说，单镀层不少于15秒，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主盐离子浓度测量时间在30~60秒之间。

2） 样品放置原则

必须正确放置样品（详细见仪器使用说明），保证X射线荧光不受干扰地到达探测器。

3） 如果测量结束后，出现“错误：不能测量”及“错误：光谱无效”信息，此时应进

行如下操作：

A：检查所测样品镀层情况是否与所选择的产品程式一致。

B：进行基准测量。

C：进行底材修正。

4） 测量之前应检查待测样品的底材成分与设定的底材是否一致。方法是直接测量底材，

如果测量结果偏离零点较大，则应进行底材修正。把底材放在工作台上，选择菜单“调校—→底材修正”，当出现“元素：测量产品的底材物料”后，按“确定”进行底材修正即可。

五．打印报表

1．打印测量数据

1）选择菜单“结果计算¾读数组报告”或点击 工具栏上的图标进入单个数据组报表窗口。选择要打印的测量数据组。（V3.16版以后的软件和V6版软件）

2） 选择菜单“文件—→列印”进行打印。

如果要打印所有数据的统计结果，则选择菜单“结果计算—→最后报告”，选择菜单“文件—→列印”进行打印操作。（V3.16版以前的软件）

六．调校产品程式（要有调校标准片才能做）

正确的调校是保证仪器测量精度的必要条件。在调校之前必须充分预热仪器及进行基准测量。这点非常重要。

确定是否应进行调校，可通过测量调校标准片来检验。选择菜单“产品程式—→测量调校标准片”，放置标准片在工作台上，移动标准片测量几次。如果测量数据平均值与标准片之差不符合标准片的精度，则可以进行“归一化”操作。如果归一化后，仍然不符合标准片的精度，则应进行调校。

调校步骤：

1） 选择要调校的产品程式

2） 选择菜单“调校—→调校”开始进行“调校”。屏幕左下角的指令窗口会出现下一步的操作指示。按照指示放置相应的材料和标准片进行测量。如果底材或标准片要测量几次，轻轻移动底材或标准片几次。调校结束后，“输入调校标准”窗口出现，按“确定”结束调校。

七．注意事项

1． 仪器供电电压必须与FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM 仪器铭牌上的电压一致。

仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2． 本仪器为精密仪器，建议配备高精度的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）

3． 仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4． 仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）

的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。

5． 仪器曝晒在阳光下时，窗口玻璃后的温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环

境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。

6． 为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器！

并在重新使用前请技术人员全面检查仪器。

7． 本仪器不能用于酸性环境和易爆场合。

8． 不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片！否则会造成读数错误！

9． 不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物！如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。