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GDS-80晶振测试仪/晶体阻抗计技术参数

提供者:深圳智慧源电子有限公司   发布时间:2017/2/2 16:53:27  阅读次数:495次  进入该公司店铺

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晶振测试仪
/晶体阻抗计GDS-80

一、产品简介

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。

二、主要技术指标

1.中心频率范围:20KHz-100MHz任意设定

2.负载电容:4-20P 任意设定

3.负载谐振电阻:1Ω-300Ω 1K-300K

4.PPm范围测量:±300ppm

5.PPm测量精度:< 0.5ppm

6.时基频率:16.384M

7.晶振稳定性:2×10-8 /日

8.体积:80×235×305(mm)

9.保修期:三年

4.说明书 1份

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