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二氧化硅比表面积孔隙率测试

提供者:北京彼奥德电子技术有限公司   发布时间:2013/3/15 12:01:00  阅读次数:793次  进入该公司店铺

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物理性质
二氧化硅又称硅石,化学式SiO₂。自然界中存在有结晶二氧化硅和无定形二氧化硅两种。
沙状二氧化硅
结晶二氧化硅因晶体结构不同,分为石英、鳞石英和方石英三种。纯石英为无色晶体,大而透明棱柱状的石英叫水晶。若含有微量杂质的水晶带有不同颜色,有紫水晶、茶晶、墨晶等。普通的砂是细小的石英晶体,有黄砂(较多的铁杂质)和白砂(杂质少、较纯净)。二氧化硅晶体中,硅原子的4个价电子与4个氧原子形成4个共价键,硅原子位于正四面体的中心,4个氧原子位于正四面体的4个顶角上,SiO₂是表示组成的最简式,仅是表示二氧化硅晶体中硅和氧的原子个数之比。二氧化硅是原子晶体

仪器工作原理为国际通用的等温物理吸附静态容量法,全程计算机自动控制,无需人工监测,此项仪器技术我公司已经申请相关国家专利。SSA-4000系列全自动比表面积及孔隙度分析仪,可同时进行最多三个样品的分析,设备操作软件系我公司自行开发。仪器可进行单点、多点BET比表面积、BJH介孔、DR及MP微孔、孔分布、孔大小及总孔体积和面积、及平均孔大小等的多种数据分析,其比表面分析范围为0.0005m2/g 至无上限(需使用氪气分析),孔径分析范围为0.35-500nm,可满足多种工况环境条件下的实验需求。

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