▲采用高速CPU处理器高精度电子光学传感器，高速16位AD取样，性能更稳、精度更高。

▲系统的升采用源代码更加开放的嵌入式操作系统，更加符合智能产品的应用设计为仪器后续升提供无限空间，人性化界面系统；

▲采用10.1高清IPS电容触屏，高显示分辨率，一屏显示更多内容，色彩鲜艳图形显示更加逼真，触摸及使用更加流畅，界面设计更加合理，体验更强；

▲毫快速开关机，一键测试，更加便捷的使用。

▲系统便捷更新升

测量参数标准

▲基本测量、

▲IEEE PAR 1789《IEEE Std 1789TM-2015》

▲IEC-Pst短期闪烁指数、NEMA 77-2017规定了短期闪变指数（Pst）

▲CA CEC（加州能效）、

▲ASSIST、ASSIST规定了Mp的计算方法

▲CIE SVM

闪烁百分比PF、-闪烁指数FI、-光输出周期性频率f、-短期闪变指数Pst、-频闪效应可视化参数SVM、-ASSIST闪烁感知度Mp

性能及技术指标

1、照度测量范围：0.1 lx～200,000 lx；自动及4 档量程测量；

2、测量准确度：一（±4％）；

3、采样速率：1kS/s, 5kS/s, 10kS/s100 kS/s设定）；（kS/s：千次采样每）

4、采样时间：0.1s-200s(1kS/s)可设定；

5、额定工作条件：

6、测量方式：照度、亮度、光通量、光强

7、保存文件格式：PDF、GDF、EXCLE

主要测试参数

1、基本测量

频率、ZUI大值、小值、平均值、闪烁指数、闪烁百分比、调制深度、频闪深度、光度图、光度图放大、频谱图

2、IEEE1789

频率、ZUI大值、小值、平均值、闪烁指数、闪烁百分比、调制深度、频闪深度、调制深度危害判图

3、IEC Pst

频率、ZUI大值、小值、平均值、闪烁指数、闪烁百分比、调制深度、频闪深度、光度图、光度图放大、频谱图

Pst、Pst评价

4、CA CEC

频率、ZUI大值、PAM、PAM（40Hz）、PAM（90Hz）、PAM（200Hz）、PAM（400Hz）、PAM（1000Hz）光度图、光度图放大、频谱图

5、CA CEC

闪烁指数、闪烁百分比、MP、DP、d、a、fb、MP 评价、光度图、光度图放大、频谱图

6、CIE SVM

频率、ZUI大值、小值、平均值、闪烁指数、闪烁百分比、SVM、SVM评价、光度图、光度图放大、频谱图