薄膜厚度测量仪专场,薄膜厚度测量仪商家多、资料全面第2组

GB/T 6672台式薄膜测厚仪包装薄膜厚度测定仪Labthink

GB/T 6672台式薄膜测厚仪包装薄膜厚度测定仪LabthinkPARAM博每 CHY-C2A测厚仪产地：济南兰光机电技术有限公司品牌：Labthink兰光咨询热线：0531-85068566、15764121171

CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

技术特征：

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输

支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告

执行标准：

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2A测厚仪技术指标：

负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）

分辨率：0.1μm

测量速度：10 次/min（可调）

测量压力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（纸张）

接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz

外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)

净重：32kg

仪器配置：

标准配置：主机、标准量块一件

选购件：业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

该公司产品分类：集成式灼烧残渣检测系统智能型反压高温蒸煮锅锂电池隔膜透气性测试仪透湿仪、透湿性测试仪蒸发残渣恒重仪、蒸发残渣仪透气仪、透气性能测试仪透氧仪、透氧性测试仪热粘拉力试验仪透气性测试标准膜片胶粘带压滚机圆盘剥离试验机光泽度测定仪、光泽度计铝箔针孔检测仪智能耐破度测试仪、耐破强度仪安瓿瓶折断力测试仪 RGT-01真空包装残氧仪抗穿刺性能测试仪、穿刺力试验机摩擦系数/剥离试验仪酱料包抗压试验仪真空衰减法无损密封仪

F20薄膜厚度测量仪

薄膜厚度测量范围： 3nm～450um，精度为0.1nm。光源及探测器的波长从紫外220nm至近红外1700nm。

产品特性：

1、操作简单、使用方便；

2、测量快速、；

3、体积小、重量轻；

4、价格便宜；

产品应用：

1、半导体行业:光刻胶、氧化物、氮化物；

2、LCD行业:液晶盒间隙厚度、ITO、Polyimides；

3、光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片；

ST2000薄膜厚度测量仪

ST2000薄膜厚度测量仪特点1）因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2）可获得厚度和 n,k 数据。

3）测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4）可测量3层以内的多层膜。

5）根据用途可自由选择手动型或自动型。

6）产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品

7）可测量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP专用）

ST2000薄膜厚度测量仪产品规格/型号

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类：水质分析仪/多参数水质分析仪其它基础仪表其它测量/计量仪器生物显微镜激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗蠕动泵电化学工作站、恒电位仪液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪微波、电、磁学量的测量仪表微流控芯片等离子体表面处理仪椭偏仪锁相放大器其它动物实验仪器白光干涉测厚仪扫描探针显微镜SPM（原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM）紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

ST2000薄膜厚度测量仪

ST2000薄膜厚度测量仪特点1）因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2）可获得厚度和 n,k 数据。

3）测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4）可测量3层以内的多层膜。

5）根据用途可自由选择手动型或自动型。

6）产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品

7）可测量 PDP 上的膜厚度（Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP专用）

ST2000薄膜厚度测量仪产品规格/型号

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类：恒流泵恒压恒流进样泵微流控

测量聚合物薄膜薄膜厚度测量仪价格

光学薄膜厚度测量仪在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS），实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。这款薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪用于测量聚合物薄膜和光致抗蚀剂薄膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k）的变化。为了这种特色的测量，我们特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature （Tg）, ，热分解温度thermal degradation temperature （Td），薄膜的厚度测量范围也高达10nm－－100微米。

详情浏览： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html这套薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。标准参数可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg电力要求：110/230VAC薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,薄膜厚度测量仪应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体制造在线测量光学镀膜测量中国最大的进口精密光学器件和科学仪器供应商！－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－

Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光学精密仪器网） www.felles.cc （综合性尖端测试仪器网） www.f-lab.cn （综合性实验室仪器网）

该公司产品分类：成像光谱仪 X射线衍射仪激光晶体和器件翘曲度形貌仪

CHY-10塑料薄膜厚度测量仪（千分或百分测量）

商品描述：

一、设备名称：塑料薄膜厚度测量仪（千分或百分测量）型号：CHY-10

二、设备用途: 本仪器是采用高精度数显千分表测量塑料薄膜及薄片的专用仪器。具有测量精度高、数据稳定等特点，同时还可进行英吋和毫米之间变换。

三、主要技术指标: 1测量精度： 0.001mm/0.0005″ 2测量范围： 0―10mm/0.2″

四、安装方法: 1将底座从包装中拿出,放于平稳平面上. 2调整调整螺钉,使其处于水平位置. 3将千分表取出安装在千分表支架上,并调整好上下测量块,使其间隙为零. 4将千分表支架安装在底座上的固定槽内,并用锁紧手柄锁紧.

五、使用方法：用钢丝轴将千分表测量头抬起几次后,将千分表值清零（按千分表上的”0”钮）.然后将测量头抬起,把被测试样放在下测量面上，将测量头放下，这时千分表上的值即为被测试样厚度值.（如果没有试样时,表上仍有读数,则看测量面上是否有脏东西,如有则用柔软干净的布将其擦掉,如果没有则直接按千分表”0”钮清零即可。

该公司产品分类：智能鞋覆膜机XT-46A 智能鞋覆膜机XT-46B 智能鞋覆膜机XT-46B(I) 智能鞋覆膜机XT-46B(II) 智能鞋覆膜机(鞋套机)XT-46C 坤昱智能鞋底覆膜机(鞋套机) 联系林先生05925508263 昆山舒美超声波清洗器系列福建总代中科美菱低温保存箱/低温冰箱昆山舒美超声波清洗器系列海尔超低温冰箱系列上海美谱达紫外/可见分光光度计福建总代理鼓风干燥箱系列实验室通用仪器奥豪斯电子天平/台称/快速水分仪系列芬兰百得移液器系列/总代理

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