SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 水质分析仪/多参数水质分析仪 其它基础仪表 其它测量/计量仪器 生物显微镜 激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗 蠕动泵 电化学工作站、恒电位仪 液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪 生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪 微波、电、磁学量的测量仪表 微流控芯片 等离子体表面处理仪 椭偏仪 锁相放大器 其它动物实验仪器 白光干涉测厚仪 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 水质分析仪/多参数水质分析仪 其它基础仪表 其它测量/计量仪器 生物显微镜 激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗 蠕动泵 电化学工作站、恒电位仪 液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪 生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪 微波、电、磁学量的测量仪表 微流控芯片 等离子体表面处理仪 椭偏仪 锁相放大器 其它动物实验仪器 白光干涉测厚仪 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

SpectraThick5000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick5000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 水质分析仪/多参数水质分析仪 其它基础仪表 其它测量/计量仪器 生物显微镜 激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗 蠕动泵 电化学工作站、恒电位仪 液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪 生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪 微波、电、磁学量的测量仪表 微流控芯片 等离子体表面处理仪 椭偏仪 锁相放大器 其它动物实验仪器 白光干涉测厚仪 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 水质分析仪/多参数水质分析仪 其它基础仪表 其它测量/计量仪器 生物显微镜 激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗 蠕动泵 电化学工作站、恒电位仪 液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪 生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪 微波、电、磁学量的测量仪表 微流控芯片 等离子体表面处理仪 椭偏仪 锁相放大器 其它动物实验仪器 白光干涉测厚仪 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

SpectraThick3000薄膜厚度测量仪

SpectraThick3000薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick3000薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

FunctionPattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 水质分析仪/多参数水质分析仪 其它基础仪表 其它测量/计量仪器 生物显微镜 激光拉曼光谱(RAMAN) 表面阻抗 蠕动泵 电化学工作站、恒电位仪 液体处理工作站(移液工作站) 在线测厚仪 生物芯片、芯片扫描仪、芯片点样仪、芯片检测仪 微波、电、磁学量的测量仪表 微流控芯片 等离子体表面处理仪 椭偏仪 锁相放大器 其它动物实验仪器 白光干涉测厚仪 扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 恒流泵 恒压恒流进样泵 微流控

SpectraThick5000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick5000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 恒流泵 恒压恒流进样泵 微流控

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 恒流泵 恒压恒流进样泵 微流控

SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪

SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪特点1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。

2) 可获得厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品

7)可测量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP专用) 

SpectraThick7000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

该公司产品分类: 恒流泵 恒压恒流进样泵 微流控

CHY-C2A电子薄膜厚度测量仪 PE保鲜薄膜厚度仪 膜厚测量仪

CHY-C2A电子薄膜厚度测量仪 PE保鲜薄膜厚度仪 膜厚测量仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
产品关键词:测厚仪,薄膜厚度仪,薄膜测厚仪,纸张厚度测定仪,厚度测量仪,厚度计,薄膜厚度测量仪,薄膜厚度检测仪,薄膜厚度测定仪,薄片测厚仪,硅片测厚仪,GB 6672,纸张测厚仪
CHY-C2A电子薄膜厚度测量仪 PE保鲜薄膜厚度仪 膜厚测量仪技术特征:
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告
执行标准:
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A电子薄膜厚度测量仪 PE保鲜薄膜厚度仪 膜厚测量仪技术指标:
负荷量程:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)
分辨率:0.1μm
测量速度:10 次/min(可调)
测量压力:17.5±1KPa(薄膜);50±1KPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重:32kg
仪器配置:
标准配置:主机、标准量块一件
选购件:业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机
该公司产品分类: 集成式灼烧残渣检测系统 智能型反压高温蒸煮锅 锂电池隔膜透气性测试仪 透湿仪、透湿性测试仪 蒸发残渣恒重仪、蒸发残渣仪 透气仪、透气性能测试仪 透氧仪、透氧性测试仪 热粘拉力试验仪 透气性测试标准膜片 胶粘带压滚机 圆盘剥离试验机 光泽度测定仪、光泽度计 铝箔针孔检测仪 智能耐破度测试仪、耐破强度仪 安瓿瓶折断力测试仪 RGT-01真空包装残氧仪 抗穿刺性能测试仪、穿刺力试验机 摩擦系数/剥离试验仪 酱料包抗压试验仪 真空衰减法无损密封仪

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