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JC03-LT-2单晶少子寿命测试仪，硅单晶非平衡少数载流子寿命检测仪，半导体材料少数载流子寿命测量仪

单晶少子寿命测试仪硅单晶非平衡少数载流子寿命检测仪半导体材料少数载流子寿命测量仪硅单晶多晶磷检棒寿命测量仪

型号JC03-LT-2

JC03-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

技　术　指　标：

测试单晶电阻率范围>2Ω.cm

可测单晶少子寿命范围5μS～7000μS

配备光源类型波长：1.09μm；余辉<1μS；

闪光频率为：20～30次／秒；

高频振荡源用石英谐振器，振荡频率：30MHz

前置放大器放大倍数约25，频宽2Hz-1MHz

仪器测量重复误差<±20％

测量方式采用对标准曲线读数方式

仪器消耗功率<25W

仪器工作条件温度：10-35℃、湿度<80％、使用电源：AC220V，50Hz

可测单晶尺寸断面竖测：φ25mm—150mm；L2mm—500mm；

纵向卧测：φ25mm—150mm；L50mm—800mm；

配用示波器频宽0—20MHz；

电压灵敏：10mV／cm；

该公司产品分类：教学仪器照度光谱系列逻辑棒/笔测氡仪氧气检测仪氢气检测报警仪气体检测报警仪熏蒸气体检测仪空气质量检测仪垃圾场气体检测酒精测试仪有毒气体检测仪甲烷检测仪可燃气体检测仪/探测仪复合气体检测仪苯检测仪挥发性有机气体臭氧检测分析仪甲醛检测/分析氧气检测报警仪

DT319-LT-2单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪

DT319-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。技　术　指　标：测试单晶电阻率范围 >2Ω.cm 可测单晶少子寿命范围 5μS～7000μS 配备光源类型波长：1.09μm；余辉<1 μS；闪光频率为：20～30次／秒；闪光频率为：20～30次／秒；高频振荡源用石英谐振器，振荡频率：30MHz 前置放大器放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz 仪器测量重复误差 <±20％测量方式采用对标准曲线读数方式仪器消耗功率 <25W 仪器工作条件温度： 10-35℃、湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz 可测单晶尺寸断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；配用示波器频宽0—20MHz；电压灵敏：10mV／cm；

该公司产品分类：测氡仪氧气检测仪氢气气体检测报警仪气体检测报警仪熏蒸气体检测仪空气质量检测仪垃圾场有毒有害气体测试仪酒精测试仪有毒气体检测仪甲烷检测仪可燃气体检测仪/探测仪复合气体检测仪显微镜苯检测仪挥发性有机气体测试仪臭氧检测分析仪甲醛检测分析仪二氧化硫检测仪检测仪氨气检测仪

HS-WMR-2S-3光伏单多晶少子寿命测试仪少数载流子检测

产品介绍:HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到30ms,电阻率要求范围：0.1-1000Ω.cm,，是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。

产品特点

■无接触和无损伤测量

■自动测量，具有传送系统，可进行连续测量

■快速测量，测试扫描速度达到2000mm/min

■测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

■主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等。

■性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本。

推荐工作条件

■温度：18-26℃■湿度：10%~80%■大气压：750±30毫米汞柱■少子寿命测试范围:0.1μs-20ms

■测试扫描速度:2000mm/min

■测试尺寸:215mm*215mm*500mm

■ 电阻率范围：>0.1Ω.cm

■ 激光波长：904,测试功率范围：50-500mw

■ 硅棒硅块扫描间距：≥1mm

■仪器测试精度：±3.5％，信号处理偏差≤2％

■工作频率：10GHz±0.5

■微波测试单元功率：0.01W±10%

■电源：～220V 50Hz 功耗＜200W

■主机尺寸：365mm * 645mm *565mm

■主机重量：30KG

典型客户

河北，江西，江苏，浙江，新疆等地拉晶铸锭客户。

该公司产品分类：光伏检测

JC03-LT-2单晶少子寿命测试仪 ，硅单晶非平衡少数载流子寿命检测仪， 半导体材料少数载流子寿命测量仪

DT319-LT-2单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪

HS-WMR-2S-3光伏单多晶少子寿命测试仪少数载流子检测

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DT319-LT-2单晶少子寿命测试仪少子寿命测试仪