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CMI900CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪CMI900

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽 NIST认证的标准片全球服务及支持

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900技术参数

主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示) －统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

CMI960x射线荧光测厚仪

CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，90%以上的大型企业在使用CMI系X-RAY机做为测量镀层厚度的行业工具，而今上市一款X-starata960在测量贵金属方面达到同行业前所未有的高度

X-starata960说明及与CMI900的对比

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
PC用户界面

新型X-STRATA 960即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新提高了我们X线系列产品的性能。X-STRATA 960能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。X-STRATA 960分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们在售前和售后都提供的服务。测量和材料分析系统软件所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。规格简介无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体l 5层/15种元素/普通元素效正同时为多达15种元素进行成份分析贵重金属分析和金纯度检查材料与合金元素分析材料鉴定与区别吸收测量方式液体分析：分析液体中的金属，如电镀液系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化光谱计数速率峰值位移效正重叠荧光峰值数字峰值反卷定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱Oxford统计数字和报告产生器LE（轻型）Oxford SmartLink 补充软件系列Oxford统计数字和报告产生器配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器Oxford即时分析Oxford材料区别Oxford Percent P有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化X-STRATA 960仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。激励下视X线。X线射束90度采样100W风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA准直管：多个（最多4个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）主要过滤器：提供各种厚度及材料X线探测器和信号处理X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能样品处理样品室：开槽在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）彩色样品图像捕获和打印激光样品聚焦电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项测量鼠标器启动“点击”测量自动测量重复功能安全：多用户多级密码保护电脑/处理器oxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解的IBMPC规格。

印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询的型号和规格。可联网荣誉由oxford拥有/管理的国际现场服务团队符合ISOGuide25号的要求CE标志

测厚仪手提式X射线荧光测厚仪

技术参数重量：基体配置1.2kg；1.6kg带电池尺寸：长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm X射线发生器：银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50µA 主要过滤器：5个过滤器测量尺寸：接触样品表面测量时，7.75 mm X射线探测管：Si-PIN高分辨率探测系统温度范围：-10℃—50℃ 电源：可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。参数调整：不锈钢316作为参考标准

主要特点 HMX系统主要特点无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量现场的样品分析基材管理的合金分类以及合金确认独特的“分组测量”模式，允许计算一组部件的平均厚度

COMPACT5X射线荧光测厚仪

德国宏德金属镀层测厚仪Compact eco:Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

自动测量功能：编程测量，自定测量修正测量功能：底材修正，已知样品修正定性分析功能：光谱表示，光谱比较定量分析功能：合金成份分析数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.超越其他品牌的所谓FP软件.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪

产品名称	CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
产品功能	CMI900/950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；幷且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
产品特点
产品图片

X射线荧光测厚仪

产品说明

设备图片

设备介绍

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

●标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●程控样品台：XYZ轴自动控制。

●超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

●全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为●300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

●Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。

●全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。

●可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

技术规格

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W4-50kV，0-1.0mA－标准 75W4-50kV，0-1.5mA－任选 X射线管功率可编程控制
	装备有安全防射线光闸
滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
	位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm 使用0.025 x 0.05 mm准直器
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm 使用0.3mm准直器
X射线探测系统	封气正比计数器
	装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
样品室	CMI900	CMI950
－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，150mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统	高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。
	激光辅助光自动对焦功能
	可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置	IBM计算机：2.8G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，15寸液晶，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件	操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围	可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能	无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
	样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体镀液中的元素含量
	可检测元素范围：Ti22 – U92
	可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
	组成分析时，可同时测定15种元素
	多达4个样品的光谱同时显示和比较
	元素光谱定性分析
－调整和校正功能	系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移
	谱峰计数时，峰漂移自动校正功能
	谱峰死时间自动校正功能
	谱峰脉冲堆积自动剔除功能
	标准样品和实测样品间，密度校正功能
	谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
－测量自动化功能要求XY程控机构	鼠标激活测量模式：“PointShoot”
	多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
	测量位置预览功能
	激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能	设定测量点
	One or Two Datumn reference Points on each file
	测量位置预览图表显示

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
－任选软件	统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
	液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
	材料鉴别和分类检测
	材料和合金元素分析
	贵金属检测，如Au karat评价

Thick 800AX射线荧光测厚仪价格*深圳天瑞新闻

产品名称

X射线荧光测厚仪价格是企业采购中比较关心的方面，既能满足客户的要求，价格又便宜，是款快速无损测厚仪器，主要针对金属镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锌、镀铜等）厚度检测，广泛应用于电镀厂、电子电器企业、五金工具厂、线路板企业、电子连接器企业等。天瑞仪器是内较大的荧光X射线测厚仪厂家，分析仪器上市公司，产品打破了外垄断局面，在内占有定的市场份额，荧光X射线测厚仪品牌企业。

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求较小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层次可同时分析多达五层镀层较薄可测试0.005μm分析含量般为2ppm到99.9% 镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回收程序工作稳定性高度适应范围为15℃至30℃电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm重量：90 kg

售后服务

天瑞仪器作为个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为身的综合性仪器供应厂商，荧光X射线测厚仪生产企业，直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供方位的服务。我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、回访、巡检等过程、方位、系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。“快速、、到位”的服务较长保修期较个性化服务较低维护费用较短交货时间较快安装较短维修周期

产品性能优势

测试范围广X射线荧光测厚仪，是种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。性高由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。满足不同需求测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。性价比高：相比化学分析类仪器，荧光x射线测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。简易对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。快速1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。方便X射线荧光测厚仪部分机型采用进口际上较的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。无损：测试前后，样品无任何形式的变化。直观实时谱图，可直观显示元素含量。

X射线荧光测厚仪

厂家优势

天瑞仪器是专业生产X射线荧光测厚仪的厂家，分析仪器上市企业，价格优惠，质量有保障，售后服务方便且成本低。

铝业网图片天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。售后网点：

昆山公司地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园	阳光天地地址：深圳市罗湖区田贝四路阳光天地天地轩2009
深圳公司地址：深圳市宝安区松岗街道芙蓉东路桃花源科技创新园松岗分园琦丰达大厦22层AB座	天津技术网点地址：天津市东丽区津唐路景新苑 9 号楼 1 ―― 402 室
浙江技术网点地址：浙江省宁波市海署区常青路柳锦花园98弄76号106 室浙江省温州市鹿城区学院东路新田园1组团	福建技术网点地址：福建省厦门市嘉禾路东方财富广场 B 栋 706 天瑞仪器福建技术网点
江沪技术网点地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园	东北三省技术网点地址：沈阳市于洪区白山路 68-13 号依云北郡 B1-3-8-2 号
云贵川技术网点地址：成都市金牛区五福桥东路229号龙湖北城天街31栋913	陕甘宁技术网点地址：陕西省西安市雁塔区曹里村 27 号附1
海外技术网点地址：江苏省昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园	邦鑫伟业技术有限公司地址：北京市昌平科技园区超前路 37 号 4 号楼 5 层南区
山东技术网点地址：山东省青岛市四方湖青路紫荆苑 11 号楼 4 单元 602 室	青海西宁技术网点地址：青海省西宁市城中区夏都大街222号

该公司产品分类：邻苯二甲酸盐检测仪液相色谱仪 x射线电镀层测厚仪增塑剂（DBP、BBP、DEHP、DIBP）检测仪 rohs2.0检测仪器 vocs在线监测仪合金分析仪粮油重金属检测仪XRF 镀层测厚仪离子色谱IC 电感耦合等离子体光谱仪（ICP）波长色散（WDX）能量色散（XRF）车内有机物检测汽车有害元素检测汽车有害物质检测方案皮革八大重金属检测仪 rohs检测仪土壤重金属测试仪器皮革邻苯7P检测仪

Thick8000X射线荧光测厚仪

产品简介 x射线荧光测厚仪是款通过X射线照射方式测试电镀层厚度的仪器，针对镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀银等镀层厚度检测，次性多可以测5层，是种无损仪器，整个操作通过电脑过程清晰可见，而且操作非常简单，人员简单的培训即可上岗操作，降低了企业在来料（不合格）和生产过程中因产品镀厚或者镀薄而造成的不必要损失。

参数规格

X射线荧光测厚仪可以分析从硫到铀之间的元素，同时可以测试24种元素之多，含量范围般从2个PPM到百分之99.9；镀层厚度般在50μm以内，不同材质略有差异，的SDD探测器，高清的工业摄像头，仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm，样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm，样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

产品功能

新款Thick8000x射线荧光测厚仪秉承了上代Thick800A的优点，在此基础上设计了三维移动平台，的样品观测系统和图像识别功能，满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试，同时加上大面积的高分辨率的探测器，大大提高了度，为客户提供更的测试，从而降低产品的成本，提高产品的竞争力。

产品选型

X荧光镀层测厚仪品牌，thick800ax-ray镀层测厚仪，x荧光镀层测厚仪价格，thick8000镀银层无损测厚仪，x荧光镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，X荧光电镀层测厚仪，镀层膜厚测试仪，铜上镀镍金测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，x荧光金属测厚仪，无损金属镀层测厚仪,镀金膜厚仪,PCB表面镀层测厚仪,thick600金属镀层分析仪，镀银厚度测试仪，EDX1800B膜厚测试仪x-ray ，金属镀层膜厚仪，X射线荧光多镀层厚度测量仪，铜镀银X射线无损测厚仪，镀层分析仪

服务厂家

天瑞仪器凭借产品的性能、完善的售后服务，以及超高的性价比取得的美的生活电器技术家的致与青睐。应用案例

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目天瑞仪器的产品已经服务于海尔、创维、LG、长虹、TCL、美的、美菱、三星、方太等多数内外知名生活电器品牌，成功地为中的电子电器行业提供了分析检测域为完善的行业解决方案。

应用域

x射线荧光测厚仪主要应该用在电子电器（线路板/PCB）、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。

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厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是内早研发生产x射线荧光测厚仪的厂家，在行业内内品牌和知名度非常高，市场占有率内先，同时公司在分析仪器域也是佼佼者，在2011年成功上市，凭借产品质量和售后服务得到了客户的，整个产品来说性价比非常高。

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同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案，从而推动中经济快速球化。公司被授予 “家火炬计划重点高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有际先的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“家重点新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐，为环境保护与安、工业测试与分析及其它域提供业解决方案。江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。

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公司业从事光谱（ROHS检测仪、X荧光测厚仪、矿石分析仪、合金分析仪、便携式光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪ICP）、色谱、质谱（气相色谱质谱联用仪GCMS、液相色谱质谱联用仪LCMS、电感耦合等离子体质谱仪ICPMS）等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

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该公司产品分类： EDX2000A 钼锰层电镀镍测厚仪 rohs2.0环保测试仪凹槽镀金膜厚仪 ROHS2.0检测仪器 ROHS2.0测试设备 ROHS2.0十项测试仪欧盟rohs2.0分析仪 rohs2.0有机物测试仪 ROHS2.0检测设备邻苯4P快速分析仪 ROHS十项检测仪 X射线膜厚仪 ROHS新增四项检测仪手持式光谱分析仪光谱镀层测厚仪手持式x荧光分析仪不锈钢检测光谱仪重金属测试仪器icp X射线光谱测厚仪