Compact eco德国宏德X射线荧光测厚仪

备有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成分分析,电镀液成分分析,中文简体、繁体、英文操作系统可测元素范围: 钛(Ti)—铀(U)可测厚度范围(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自动测量功能:编程测量,自定测量修正测量功能:底材修正,已知样品修正定性分析功能:光谱表示,光谱比较定量分析功能:合金成分分析数据统计功能:X管理图,X-R管理图,直方柱图

Compact eco德国宏德X射线荧光测厚仪

备有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成分分析,电镀液成分分析,中文简体、繁体、英文操作系统可测元素范围: 钛(Ti)—铀(U)可测厚度范围(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自动测量功能:编程测量,自定测量修正测量功能:底材修正,已知样品修正定性分析功能:光谱表示,光谱比较定量分析功能:合金成分分析数据统计功能:X管理图,X-R管理图,直方柱图

CMI900/960X射线荧光测厚仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: l 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 l 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 l 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 l 程控样品台:XYZ轴自动控制。 l 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。 CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为: l 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 l Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。 l 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。 l 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。 CMI900/950主要技术规格如下: No. 主要规格 规格描述 1 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制 装备有安全防射线光闸 2 滤光片程控交换系统 根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口 3 准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制 多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 5 X射线探测系统 封气正比计数器 装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路 6 样品室 CMI900 CMI950 -样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 -最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm任选:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm -Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mmXY轴手动时,269.2mm -XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 -样品观察系统 高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光辅助光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 7 计算机系统配置 IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。 8 分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:SmartLink FP软件包 -测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围 -基本分析功能 无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 组成分析时,可同时测定15种元素 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 -调整和校正功能 系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响,自动消除系统漂移 谱峰计数时,峰漂移自动校正功能 谱峰死时间自动校正功能 谱峰脉冲堆积自动剔除功能 标准样品和实测样品间,密度校正功能 谱峰重叠剥离和峰形拟合计算 -测量自动化功能(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” 多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 -样品台程控功能(要求XY程控机构) 设定测量点 One or Two Datumn (reference) Points on each file 测量位置预览(图表显示)

CMI900系列X射线荧光测厚仪

CMI900系列X射线荧光测厚仪

客服热线:深圳:0755-27195123  手机:13902929627

关键字:测厚仪,膜厚仪,涂层厚度,CMI 233测厚仪,电镀测厚,CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪

品牌:OXFORD CMI(英国牛津)

简介:

□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。

□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持

□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)

用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量

  产品介绍  订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:

● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 程控样品台:XYZ轴自动控制。

● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:

● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。

● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。

可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。  ========================================天友利标准光源有限公司国际网站:http://www.tayole.com在线销售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123  手机:13902929627上海:021-64601150   北京:010-69291666苏州:0512-82155192  杭州:0571-86726516

CMI900英国牛津X射线荧光测厚仪

□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: ● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 ● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 ● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制.● 程控样品台:XYZ轴自动控制。 ● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。 CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为: ● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 ● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。 ● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

CMI900/950X射线荧光测厚仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪 Advanced Materials Analysis Instrument CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900X射线荧光测厚仪

品牌:OXFORD CMI(英国牛津)

简介:

□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。

□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持

□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)

用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量

产 品 介 绍 

订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:

● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 程控样品台:XYZ轴自动控制。

● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:

● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。

● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。

可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

CMI900/950主要技术规格如下:

No.

主要规格

规格描述

1

X射线激发系统

垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制

装备有安全防射线光闸

2

滤光片程控交换系统

根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统

二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口

3

准直器程控交换系统

最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制

多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20 mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

5

X射线探测系统

封气正比计数器

装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路

6

样品室

CMI900

CMI950

 

-样品室结构

开槽式样品室

开闭式样品室

-最大样品台尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

-XY轴程控移动范围

标准:152.4 x 177.8mm任选:50.8mm x 152.4mm50.4mm x 177.8mm101.6 x 177.8mm177.8 x 177.8mm610mm x 610mm

300mm x 300mm

-Z轴程控移动高度

43.18mm

XYZ程控时,152.4mmXY轴手动时,269.2mm

-XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

COMPACT5X射线荧光测厚仪/元素分析仪

德国COMPACT品牌的测厚/元素分析仪,更配置有半导体电子冷却检测器,激光自动对焦.自动样品台使用.可测量各类金属层,合金层厚度.同时可进行合金成分分析,电镀液成分分析.可测量元素范围:钛(TI)--铀(U)可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8UM.           26-40,0.05-35UM.           43-52,0.1-100UM.           72-82,0.05-5UM

名称: X-RAY荧光测厚仪 

型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型) 

厂家: 德国Roentgenanalytik公司 

特点: 无损

单、双、三层镀层的厚度测量 

容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器 

镀液定量分析 

用能X射线转换器使测量时间缩短 

现代化技术领先的软件 

安全性高,使用寿命长 

用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算  

名称: X-RAY荧光测厚仪 

型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型) 

厂家: 德国Roentgenanalytik公司 

特点: 无损

单、双、三层镀层的厚度测量 

容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器 

镀液定量分析 

用能X射线转换器使测量时间缩短 

现代化技术领先的软件 

安全性高,使用寿命长 

用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算 

多层镀层系统的厚度和成分分析 

软件 

μ-MasteR 厚度测量值的评估软件 

Fun-MasteR 非标基本元素校准软件 

Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件 

%-MasteR 可达8种元素的量化软件 

LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件 

Data-MasteR 数据处理软件 

Report-MasteR 客户化的报告软件 

技术数据 

电源: 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹 

样件台: 100mm(长)×85mm(高)×60mm(深) 

仪器尺寸: 450mm(长)×400mm(高)×650mm(深) 

式样室: 60mm(长)×350mm(高)×380mm(深) 

X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷) 

X-射线源: 40千伏,电流1毫安 

辐射安全: 配合测试标准AnlageII,Abs.3 经PTB试验

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪

Advanced Materials Analysis Instrument

 

系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)LCL(控制下限)CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列X射线荧光测厚仪采用开槽式样品室,如左图示,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:

l标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

l扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

l可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

l程控样品台:XYZ轴自动控制。

l超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

CMI950系列X射线荧光测厚仪采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:

l全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mmXY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

lZ轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm

l全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm

l可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

cmi900CMI900X射线荧光测厚仪cmi900

 

品牌:OXFORD CMI(英国牛津)

简介:CMI900X射线荧光测厚仪,欢迎您来电咨询CMI900X射线荧光测厚仪的详细信息!天津天巴仪器仪表销售有限公司提供的CMI900X射线荧光测厚仪不仅具有国内外领先的技术水平,更有良好的售后服务和的解决方案

□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。

□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持

□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)

用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量

 

品牌:OXFORD CMI(英国牛津)

简介:

□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。

□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持

□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)

□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)

用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量

 

产 品 介 绍  

订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

 

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

 

CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:

 

● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 程控样品台:XYZ轴自动控制。

● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。

 

CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:

 

● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。

● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。

可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品

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