备有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成分分析,电镀液成分分析,中文简体、繁体、英文操作系统可测元素范围: 钛(Ti)—铀(U)可测厚度范围(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自动测量功能:编程测量,自定测量修正测量功能:底材修正,已知样品修正定性分析功能:光谱表示,光谱比较定量分析功能:合金成分分析数据统计功能:X管理图,X-R管理图,直方柱图
备有Compact eco,Compact 5,Mixx4,Mixx5PIN/RoHS等型号选择,可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成分分析,电镀液成分分析,中文简体、繁体、英文操作系统可测元素范围: 钛(Ti)—铀(U)可测厚度范围(原子序):22-25,0.1-0.8um;26-40,0.05-35um;43-52,0.1-100um;72-82,0.05-5um自动测量功能:编程测量,自定测量修正测量功能:底材修正,已知样品修正定性分析功能:光谱表示,光谱比较定量分析功能:合金成分分析数据统计功能:X管理图,X-R管理图,直方柱图
CMI900系列X射线荧光测厚仪
客服热线:深圳:0755-27195123 手机:13902929627
关键字:测厚仪,膜厚仪,涂层厚度,CMI 233测厚仪,电镀测厚,CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪
品牌:OXFORD CMI(英国牛津)
简介:
□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。
□服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持
□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)
□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
产品介绍 订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
● 程控样品台:XYZ轴自动控制。
● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:
● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。
● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。 ========================================天友利标准光源有限公司国际网站:http://www.tayole.com在线销售:http://www.toyok.cn深圳:0755-27195123 手机:13902929627上海:021-64601150 北京:010-69291666苏州:0512-82155192 杭州:0571-86726516
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订购编号:20709 CMI900 / 20710 CMI950 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。 CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: ● 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 ● 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 ● 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 ● 程控样品台:XYZ轴自动控制。 ● 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。 CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为: ● 全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 ● Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。 ● 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。 CMI900/950主要技术规格如下:
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名称: X-RAY荧光测厚仪
型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型)
厂家: 德国Roentgenanalytik公司
特点: 无损
单、双、三层镀层的厚度测量
容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器
镀液定量分析
用能X射线转换器使测量时间缩短
现代化技术领先的软件
安全性高,使用寿命长
用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算
名称: X-RAY荧光测厚仪
型号: ECO (普通型)和ComPact5(经济型)
厂家: 德国Roentgenanalytik公司
特点: 无损
单、双、三层镀层的厚度测量
容易对焦镀层厚度和成分同时分析 /合金定量分析 十字叉丝带点状试样指示器
镀液定量分析
用能X射线转换器使测量时间缩短
现代化技术领先的软件
安全性高,使用寿命长
用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算
多层镀层系统的厚度和成分分析
软件
μ-MasteR 厚度测量值的评估软件
Fun-MasteR 非标基本元素校准软件
Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件
%-MasteR 可达8种元素的量化软件
LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件
Data-MasteR 数据处理软件
Report-MasteR 客户化的报告软件
技术数据
电源: 110伏或230伏 60赫兹或50赫兹
样件台: 100mm(长)×85mm(高)×60mm(深)
仪器尺寸: 450mm(长)×400mm(高)×650mm(深)
式样室: 60mm(长)×350mm(高)×380mm(深)
X-射线管: 带钨阳极的高功率管(空冷)
X-射线源: 40千伏,电流1毫安
辐射安全: 配合测试标准AnlageII,Abs.3 经PTB试验
Advanced Materials Analysis Instrument
系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
l扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
l可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
l程控样品台:XYZ轴自动控制。
l超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
l全程控样品台:XYZ三轴程序控制样品台,可接纳的样品最大高度为150mm,XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。
lZ轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品最大高度为270mm。
l全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品最大高度为356mm。
l可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介:CMI900X射线荧光测厚仪,欢迎您来电咨询CMI900X射线荧光测厚仪的详细信息!天津天巴仪器仪表销售有限公司提供的CMI900X射线荧光测厚仪不仅具有国内外领先的技术水平,更有良好的售后服务和的解决方案 □适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) 用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
广东正业科技有限公司http://www.zhengyee.com 联系人:黎前华 电话:13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 广东正业仪器仪表销售有限公司专业供应销售CMI900X射线荧光测厚仪,欢迎您来电咨询CMI900X射线荧光测厚仪的详细信息!天津天巴仪器仪表销售有限公司提供的CMI900X射线荧光测厚仪不仅具有国内外领先的技术水平,更有良好的售后服务和的解决方案。供应CMI900X射线荧光测厚仪,CMI900X射线荧光镀层测厚仪,广东CMI900X射线荧光测厚仪, |