德国FISCHER膜厚测试仪,是由金霖电子,负责中国华南区的销售,原装进口,质量可靠。德国FISCHER于1953年成立,有着非常丰富的经验,来制造品质优良可靠的仪器,起产品在业界广受好评, 是测量准确的标杆,广泛用于电镀、五金行业。能够有效并精确的测量合金属成分,只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素铀的所有元素都能准确测定。而且在不使用标准片做校正的情况下可达到一个相当不错的测量结果。仪器操作也十分简单,不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空,操作员只需将测试点对准,不论大小的样品可直接放进测量室内,不用调距离,只需对准位置,便能在正常的环境下测量从元素Z=13铝到Z=92(铀),固定、浆状及液体的样本也可以测量,即使是极小不规则形状的测量积也可快速、免接触的测量。
多镀层,1~6层
一、应用:
OU3100F型膜厚仪测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。OU3100N型膜厚仪测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。OU3100FN型膜厚仪采用磁感应与电涡流两种原理集一体式,可以测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层与测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
二、技术参数-OU3100型膜厚仪
型号 | OU3100F | OU3100N | OU3100FN |
测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层 | 非磁性金属上绝缘层 | 磁性金属上非磁性涂镀层 及非磁性金属上绝缘层 |
测量方法 | F 磁感应 | NF 涡流 | F 磁感应/NF 涡流 |
测量范围 | 0-1250um(更厚涂层请选用OU3500型) | ||
分辨率 | 1um | ||
准确度 | 一点校准:±:(3%H+1um) 二点校准:±:(1%H+1um) | ||
最小曲面 | F: 凸1.5mm/凹25mm N: 凸3mm/凹50mm | ||
最小测量面积 | 7mm | ||
最薄基底 | 0.5mm | ||
自动关机 | 自动关机 | ||
使用环境 | 温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH | ||
电源 | 2节7号电池 | ||
电池电压指示 | 低电压提示 | ||
外形尺寸 | 115×70×30mm | ||
重量 | 80g(不含电池) |
资料来源:沧州欧谱 膜厚仪 http://www.mohouyi.com
美国博曼(BOWAMN)膜厚仪测量技术领先同行15年,在同测量领域独领风蚤,即将成为膜厚仪之王,精准的数据,高端先进的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。
美国博曼膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等.二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金.三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金.双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等.双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。此仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!联系人:舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760
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X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试,同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
电镀测厚仪 镀层检测 电镀膜厚测试仪 镀层测厚仪 测厚仪产品介绍:
本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量,Ux-700更专业小样品测试腔的设计,带有聚焦光点的准直器,高分辨率的探测系统,众多最佳条件的选择,保证测试结果的准确性。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-210镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台,可以通过鼠标的点击操作,选择样品的多点测试,特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
Ux-210镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备,测试样品的部位清楚明了,同时摄像设备拍抓测试部位的图片,和测试数据结果一同出现在测试报告中。
Ux-210镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
电镀测厚仪 镀层检测 电镀膜厚测试仪 镀层测厚仪 测厚仪产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:149eV
高压范围:5-50Kv,50W
X光管参数:5-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用镀层滤光片
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø0.5mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区自定义
样品腔:70*20mm
整机重量:38kg
镀层测厚方法:
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度,如铁上镀铜、锌、铬、金、银等,涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度,如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试,同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
电镀测厚仪 镀层检测 电镀膜厚测试仪 镀层测厚仪 测厚仪常用单位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗语“迈”,密耳(mil)
1um=39.4迈, 1um=0.04mil