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TASI-676便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676

便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676

便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676产品特点：可测量导磁、非导磁材料。资料储存255笔。可设定Hi/Lo 警报蜂鸣的读值范围。选择平均值、最大值、最小值及最大值-最小值。常用厚度量测点可使用快速一点校正。使用者可选择μm/mils 可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。便携式膜厚计/多功能膜厚仪/手持式膜厚计/台湾特安斯/膜厚测试仪/TASI676说明

测量范围	0~40.0mils （0~1000μm）
精确度	±（4 位）在0~7.8mils ±（10 位）在0~199μm ±（3%+4 位）在7.9mils~40mils ±（3%+10 位）在200μm~1000μm
解析度	0.1mils/1μm
回应时间	1 秒
显示	3½ 位数字液晶显示，最大1999 读值
电池电压不足显示	当电池电压低于操作电压时，"+ - "显示
自动关机	15 秒
电池	9V碱性电池一节
精确度测试环境	23℃±5℃，相对湿度<75%R.H.
操作环境	0℃~50℃，相对湿度<80%R.H.
储存环境	-20℃~60℃，0~70%R.H.
尺寸	148mm（高）x105mm（宽）x42mm（厚）
重量	约260公克（含电池）
附件	说明书、电池、皮套

该公司产品分类：仪器仪表盐分计逻辑笔电子负载电源/直流电源压力表相序表温度探头高压探头功率计数字示波器噪声分贝器电磁波辐射仪膜厚计接地电阻计气体检测仪木材/纸张水份测试仪 PH酸碱度计转速表温湿度记录器

膜厚测试仪标准片膜厚测量校正片

美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:

单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.

我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.

我公司是一精密测试仪器代理商，为香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和香港地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

欢迎咨询洽谈13424255969

美国THERMO/CalMetrics X-RAY镀层膜厚测试仪标准片

测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如:

单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/xx.

我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书.

多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！欲了解产品详情，请与我们联系或访问http://eastco.18show.com.cn

xrf-2000H特价膜厚测试仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：

钛（Ti） – 铀（U）

可测量厚度范围：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射线管：油冷,超微细对焦

高压：0-50KV（程控）

准直器：

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

该公司产品分类：精密仪器

BX610-MHCSY博曼膜厚测试仪

产品名称:博曼膜厚测试仪产品型号:BX610-MHCSY元素范围：铝13到铀92。 x射线激发能量：50W(50kv和1ma)钨靶射线管探测器：硅PIN检测器250ev的分辨率或更高的分辨率测量的分析层和元素：5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素过滤器/准直器：4个初级滤波器,4个电动准直器（0.10.20.31.5mm）聚焦:多固定聚焦与激光系统数字脉冲处理:4096多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累电脑:英特尔酷睿i53470处理器(3.2ghz),8gbDDR3内存,微软Windows7专业64位等效镜头:1/4"cmos-1280x720VGA分辨率电源:150w、100~240伏,频率范围47赫兹到63赫兹工作环境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98%RH,无冷凝水重量:32公斤内部尺寸:高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)140*310mm 外形尺寸:高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)450*450mm 美国Bowman博曼膜厚测试仪典型应用： •電子、PCB：Au/Ni(p)/Cu/EpoxySn/Ni/Cu/EpoAg/Cu/EpoAu/Pd/Ni/Cu/Epo…. •連接器：Ag/Ni/Cu/BrassAu/Ni/MsNi/CuPdNi…… •晶片：AuAgNipCuTi….. •汽車製造：Paint/Zn/FePaint/ZnPaint/AIZn/FeCr/Ni/Cu/ABSCr/Fe…… •航太航天：Paint/AI……. •衛星：Paint/FeAnodising…….. •衛浴電鍍:Cr/Ni/Cu/ABSCr/Ni/Cu/BrassBathanalysis •配件緊固件:Ni/FeZn-Ni/FeCr/Ni/Fe……

该公司产品分类：显微镜系列复合气体检测仪可燃气体检测仪/探测仪甲烷检测仪有毒气体检测仪酒精测试仪垃圾场气体检测空气质量检测仪熏蒸气体检测仪气体检测报警仪氢气气体检测报氧气检测仪测氡仪干燥箱系列培养箱系列振荡器系列搅拌器系列水浴锅系列离心机系列粉碎机系列

偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试,涂层膜厚测试仪

仪器简介

AS-300反射率测试仪器是一款高精度反射率测试仪器，可测量整体反射率值，反射率光谱。操作方便快捷，适用与偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试等。

仪器功能：

·光谱测量在波长范围内进行反射度能量的图谱扫描,并可进行各种数据处理如峰谷检测、导数运算、谱图运算等.·数据输出可进行数据文件和参数文件的存取,测量结果以标准通用的数据文件格式输出

关键字：偏光片反射率测试，ITO薄膜反射率测试，TouchPannel反射率测试，导光板镀膜膜厚测试，Low-e玻璃反射率测试，汽车车灯镀膜膜厚测试

AS-300 反射率测试仪器

技术参数

波长精度：0.2nm

校正线性度：99.8%

测量误差：1%以下

单次测量时间：最小100ms

功耗：200W

电源：210~245V，60Hz

信号接口：USB2.0

操作系统：windows

波长范围：200-1100 nm

数据传输速率：每4ms 一个全扫描入存储器（USB2.0 接口），18ms（USB1.1）

每300ms 一个全扫描入存储器（串行口）

探测器：3648 像素的线型硅CCD 阵列 8um × 20um

光栅：14 种光栅，波长从紫外到近红外

积分时间：10um～65min

入射孔径：宽5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狭缝或光纤（无狭缝）

光纤连接：SMA905 接口，与0.22NA 的单股光纤相连

各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内

电子控制：8 个数字GPIO 接口电子快门控制（最短10um）

焦距：42 mm（输入）， 68 mm（输出）

光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择有关）

动态范围：2×108（系统），1300:1（单个扫描信号）

主要特点：

·设计的优良的光学系统,高性能的全息闪耀光栅,确保了仪器的低杂散光.

·双光束测光系统,配合设计的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和

极低的噪声.

全自动的控制系统,的设计理念,确保仪器具有高性和高稳定性.

·可拆卸结构的样品室设计,易于更换不同的附件.以满足不同的分析需求.

·宽敞型开放式光源室设计,使灯源更换更加方便.

·所有部件均选用进口器件.了仪器性能的高性.

·windows 环境下开发的中英文操作软件,具有多项专利技术.提供了丰富的

独具特色的分析功能.

该公司产品分类：其实电子测试仪器电子测试仪系统仪器仪表

电镀层电解膜厚测试仪供应电镀层电解膜厚测试仪，北京电镀层电解膜厚测试仪

产品标题

电镀层电解膜厚测试仪北京

型号

KH.1-20IA（微电脑型号KH.1-HQT-IB）

图片

简介

测量品种：铜、镍、铬、锌、镉、银、金、多层镍各层厚度及层间电位差。　　测量范围：0.03μm～99.99μm 准确度：±10% 　　复现精度：<5% 　　电位测量范围：－100mv～+400mv 电位测量精度：±5%\\ 　　本产品荣获国家轻工部科技成果三等奖。

	基本型	多层镍型
测量原理	利用与镀层、基材相对应的电解液、在一定的电流所溶解的硬度和时间成正比，来测定膜厚的一种测量方（却运用电化学中的库仑法来测定膜厚）	测量厚度的原理和基本型相同。测量电位差是利用不同镍层之间的电位差异来反映各层镍的厚度及层间电位差。
可测定材料	可被电解液所电解金属镀层，如：钢、镍、铬、锌、银、金、锡等。	基本型仪器可测量的各种镀种的厚度及多层镍的层间电位差。
测量范围	0．03微米－－-99.99微米	厚度：0．03微米－－-99.99微米电位差：-100mV－－+400 mV
准确度	±10%	厚度：±10% 电位差：±5%
复现精度	＜5%	＜5%
测量质表示	LED4位显示，其中两位为小数。打印输出四位数字，其中两位为小数	除了拥有LED4位显示和4位打印输出以处还有绘图仪输出电位差曲线，绘图仪输出的图形是X轴代表电位（mv），Y轴代表厚度（微米 um）的座标轴上显示的比例曲线。
测量面积	A橡皮垫圈直径2.5mm B皮垫圈直径1.7 mm	A橡皮垫圈直径2.5mm B皮垫圈直径1.7 mm
性能特点	操作简便，复现性好，可测量单层，复合型电镀，具有内置徵电脑，直观显示各层厚度。	操作简便，复现性好，可测量单层，复合型电镀，具有内置徵电脑，通过徵电脑处理，直观显示各层厚度及电位差。
设备配备	主机、电解池、有机测量架、橡皮垫圈、标准样板、打印纸及支架、试剂瓶等。	主机、电解池、有机测量架、橡皮垫圈、标准样板、打印纸及支架、试剂瓶、绘图仪等。

膜厚测试仪

CMI900 无损电镀膜厚测试仪，镀层测厚仪专业测量金、银钯銠镍铜锡等贵金属多镀层膜厚测量，快速无损，业内广受好评，客户应

用广泛在五金连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系测量量样品洽谈往来本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。

金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP（无电浸镍）在Fe上等合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，例如： AuCuCd在Ni上等双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等三镀层，例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上

PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常见应用

仪器介绍CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域

，为产品质量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的自动化控制， PCB 五金 LED 连接器表面处理等行业技术参数：CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。B ：精确度领先于世界，精确到0。025um （相对与标准片）C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X

-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪

该公司产品分类：光谱仪膜厚测试仪

TT260时代手持式涂镀层膜厚测试仪TT260深圳现货

TT260涂层测厚仪主要技术指标

使用环境温度	0～40℃
电源	镍氢电池5×1.2V 600mAH
外型尺寸	270×86×47mm
重量	530g
测量范围	0—1250μm
可使用6种测头	（F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02）进行测量
三种校准方法	一点校准、二点校准、基本校准
显示分辨率	0.1μm（测量范围小于100μm）1μm （测量范围大于100μm）
设五个统计量	存储495个数据
有两种工作方式	直接方式和成组方式
有两种测量方式	连续测量和单次测量
有两种关机方式	手动关机和自动关机
可设置限界	对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析
有删除功能	对粗大误差及错误设置可进行删除处理
打印功能	可打印测量测量值、统计值、限界、直方图
其它功能	有音乐铃声随时对操作进行提示有电源欠压指示功能可以边充电边工作错误提示功能与计算机通讯（通讯软件运行环境为Window操作系统），用计算机控制测厚仪工作。
基本配置	TT260主机　　 1台， TT260打印机　 1台，F1或N1测头　 1支，校准标准片　 1套，充电器　　　　1个

该公司产品分类：无损检测设备环境试验机系列光学显微镜系列硬度计系列测高仪系列投影仪系列影像测量仪系列日本三丰精密量仪

CMI900膜厚测试仪|膜厚测试仪生产

膜厚测试仪|膜厚测试仪生产,CMI900 膜厚测试仪膜厚仪镀层测厚仪 X-RAY膜厚仪 XRF镀层测厚仪膜厚测试仪厂家|膜厚测试仪报价|沉镍金镀层测厚仪我公司是牛津仪器技术力量最为强大的大陆代理商，专业销售：镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,X射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪；在苏州设有分公司。公司有多名经验丰富的销售、服务工程师，是牛津仪器在大陆委托的服务商，以来得到牛津厂家及广大客户的好评。

公司产品及服务项目：

1.复合镀层测厚仪CMI90O、X-Strata980

主要用于：电镀、五金、连接器、PCB、SMT、半导体及、汽车零部件的多层金属镀层的非破坏性测厚。

2.线路板PCB专用铜厚测量仪CMI700、CMI500、CM95

主要用于：PCB、SMT及PCB电镀加工厂对面铜、孔铜、绿油的非破坏性测厚。

3.产品RoHS检测仪：X-MET5000、X-Strata980

主要用于：对出口欧盟产品RoHS指令中有害物物质检测。

4.多元合金分析仪X-MET5000

主要用于：多元合金中元素定量分析

联系人：张军涛

关键词：深圳测厚仪、东莞测厚仪、惠州测厚仪、珠海测厚仪、广州测厚仪、中山测厚仪、汕头测厚仪、梅州测厚仪、佛山测厚仪、德国测厚仪、美国测厚仪、英国测厚仪、日本测厚仪膜厚测试仪|膜厚测试仪生产,膜厚测试仪厂家|膜厚测试仪报价|沉镍金镀层测厚仪CMI900 膜厚测试仪膜厚仪镀层测厚仪 X-RAY膜厚仪 XRF镀层测厚仪

该公司产品分类： x-strata920 cmi900 cmi900/strata920 X-STRATA920 CMI900 X-STRATA920 CMI900 X-SARATA920 CMI900 镀层测厚仪膜厚测试仪膜厚仪