广东正业提供CMI900镀层测厚仪,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.广东正业中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:X-STRATA960,980等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,的售前/售后服务和技术支持。
CMI900用于镀层厚度测量以及分析镀层金属成分、镀液,是一款专用镀层测厚仪、(印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等)的非破坏性精确测量及材料成分分析。
CMI900镀层测厚仪用途:
1.多镀层金属厚度测
2.合金鉴定及化学分析
3.电镀液分析
4.金成色分析
CMI900镀层测厚仪特征:
应用X射线荧光原理测量,精确度高且不破坏样品。
NIST(美国国家标准和技术学会)的标准片。
CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状,各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025×0.051毫米。
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用,分别为:标准样品台,XY轴固定,Z轴自动控制;扩展型标准样品台,XY轴固定,Z轴自动控制;可调高度型标准样品台,XY轴手动控制、Z轴自动控制;程控样品台,XYZ轴自动控制;超宽程控样品台,XYZ轴自动控制。
CMI900镀层测厚仪技术参数:
项目 | 规格 |
测量元素 | 22(TI)-92(U) |
测量层数 | 5层(4层镀层+基材层) |
X射线管功率 | 50W |
X射线管靶材 | 钨 |
最大可安装准直器数量 | 6个 |
外形尺寸 | 305×711×356mm(标准台) |
概述: PosiTector 200 采用超声波技术,非破坏性测量,应用广泛,可测量木材、混泥土、塑料、组合物等等。型号可测量多层系统中的三个单层的厚度,且型号带有图解读数,其数据可用于对涂层系统进行详细分析。
简单 |
技术参数
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注: | B-小量程C-大量程S-标准型A-型 |
一、概述 5000um型涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。 应用范围: 涂层测厚仪仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 工作原理 : 5000um型涂镀层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂镀层厚度。 二、产品性能 1、测量范围: 0~5000um 2、测量误差(H为被测覆层厚度):±(3%H+1um) 3、重复性:±(1.5%H+2um) 5、最小示值: 1um6、显示方式: 4位液晶数字显示 7、主要功能: (1).测量: 单探头全量程测厚 (2).存储、删除: 可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。 (3).读: 读出已存入的测量数据 (4).统计: 设有三个统计量,平均值最大值最小值 (5).校准: 可进行系统校准 (6).电量: 具有欠压显示功能 (7).打印: 可打印测量值,选配微型打印机 (8).关机: 具有自动关机和手动关机两种方法 8、电源: 两节1.5v电池 9、功耗: 最大功耗100mw 10、外形尽寸: 51mm*126mm*27mm 11、重量: 160g(含电池) 12、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90% 13、基体最小厚度: 0.5mm 14、基体最小平面的直径: 7mm 15、最小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm 16、欠电压指示: 右上角显示" *临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度![]() | |
三、5000um型涂层测厚仪(涂镀层测厚仪)配置单 1、5000um型涂镀层测厚仪 一台 2、七号电池 二节 3、探头 一支 4、标准样片 一盒 5、手提箱 一个 6、说明书、合格证 一套 选配件: 1、打印机及通讯打印连线 1套 2、微机通讯软件 1盘 3、内防腐探头 |
功能特点:
传感器探头 | 铁磁性 | 非铁磁性 |
工作原理 | 磁感应 | 涡流 |
测量范围 | 0~1250um | 0~1250um |
| 0~49.21mil | 0~49.21mils |
误差 | 0~850 um (1~3%+1um) | 0~850 um(1~3%+1.5um) |
(相对当前读数) | 850um~1250um (3~ 5%) | 850um~1250 um (3~ 5%) |
| 0~33.46 mils (1~3%+0.039mils) | 0~33.46mils (1~3%+0.059mils) |
| 33.46um~49.21mils 3~ 5%) | 33.46um~49.21mils (3~ 5%) |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
| 50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) |
| 850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) |
| 0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) |
| 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) |
| 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
涂镀层测厚仪PosiTector6000系列 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
美国DeFelsko公司新的PosiTector 6000系列涂镀层测厚仪仪器特点
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涂层测厚仪PosiTector6000系列技术参数
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特点简介:采用MCS-51系列高性能单片微处理器,自动采集、计算 并显示结果,采用四位LED显示。如配用微型打印机,可 自动打印测量结果。与PC电脑连接,电脑可控制测量 过程,显示并可储存测量曲线及结果,由通用打印机打印 测量报告。 台湾技术 专业制造 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
产品说明 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
测量对象: 单金属镀层:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金镀层(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 复合镀层(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多线镀层(需配用电位记录仪,如与PC电脑连接则不需记录仪); 详细说明: 测量品种:铜、镍、铬、锌、镉、银、金、多层镍各层厚度及层间电位差。 测量范围:0.03μm~99.99μm 度:±10% 复现精度:<5% 电位测量范围:-100mv~+400mv 电位测量精度:±5% 本产品荣获国家轻工部科技成果三等奖。
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韩国MicroPioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪
产品介绍
X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2000 系列分为以下三种: 1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。 应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。 行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。 特色 : 非破坏,非接触式检测分析,快速精準。 可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。 全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。 移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。 独特2D与3D或任意位置表面量测分析。 雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。
光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。
单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。 优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。 仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。 测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪
是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,
其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品
分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;
可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;
电镀溶液分析;
定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;
贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);
自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;
性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)
可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm