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MC系列涂层镀层测厚仪厂家热卖

MC系列涂层镀层测厚仪厂家热卖，MC-2000型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。

MC-2000型涂层测厚仪

1、MC-2000C型涂层测厚仪测量范围:0-5000µm

MC-2000D型涂层测厚仪测量范围:10-9000µm

MC-2000A型涂层测厚仪测量范围:0-1200µm

2、测量精度:±（3%厚度值+1）µm

3、最小示值：1um

4、显示方式：4位液晶数字显示，金属外壳

5、电源：两节1.5v电池

6、功耗：最大功耗100mw

7、外形尽寸：51mm×126mm×27mm

8、重量： 90g

10、存储容量：600个测量点

11、被测基体：铁基

12、使用环境温度：　0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%

MC系列涂层镀层测厚仪厂家热卖

该公司产品分类：测厚仪超声波提取设备超声波清洗机电火花检测仪

mini ETG-F微型涂镀层测厚仪

设计用于测量钢铁基体上涂镀层厚度他是所有预处理工作的鉴定检查者可用英制mils或公制um两种模式显示尺寸小,一只手就能操作持续和连续的读出数据不需要校准适用所有的气候

测量范围:0-1000um

精度:1%

TT220测厚仪/涂层测厚仪/镀层测厚仪/覆层测厚仪/涂镀层测厚仪/TT220

二、功能特点 :

本仪器采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；具有米、英制转换功能；具有打印功能，可打印测量值、统计值；具有欠压指示功能；操作过程有蜂鸣声提示；具有错误提示功能；具有自动关机功能。

三、技术参数 :

测头类型		F
测量原理		磁感应
测量范围		0-1250um
低限分辨力		1µm（10um以下为0.1um）
探头连接方式		一体化
示值误差	一点校准（um）	±[3%H+1]
	两点校准（um）	±[（1～3）%H+1]
测量条件	最小曲率半径（mm）	凸 1.5 凹9
	基体最小面积的直径（mm）	ф7
	最小临界厚度（mm）	0.5
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能		平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		无
存储能力		15 个测量值
打印/连接计算机		可选配打印机/不能连接电脑
关机方式		自动
电源		二节3.6V镍镉电池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

该公司产品分类：轧辊硬度计测振仪布氏硬度计洛氏硬度计里氏硬度计超声波探伤仪探伤仪粗糙度仪硬度计涂层测厚仪超声波测厚仪测厚仪

国产X射线荧光电镀层测厚仪Thick800A

产品说明、技术参数及配置

仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

天瑞仪器优势

一、品牌

天瑞在1992年研发出了中国台能量色散X射线荧光光谱仪，至今已经有25年以上经验积累，目前是国内一家真正有实力自主研发光谱仪及上市的公司，目前公司市值已超百亿，在全国拥有多家子公司，团队规模达3000人，成为中国乃至世界检测分析行业的引领者和知名品牌。

二、软硬件

1天瑞每年耗巨资研发软件，对所有客户软件终身免费升级，做到时时跟进欧盟环保指令，让客户买的仪器终生不过时。

2天瑞仪器的主要三大核心配件均来自美国进口，天瑞严格杜绝利用翻新配件和国产劣质配件，在业内树立了诚信经营的企业形象。

三、客户

天瑞仪器在环保测试领域占据80%以上的市场份额，得到了绝大客户的，是三星，华为，创维，格力，美的，富士康等大型企业的测试仪。

四、仪器精度

天瑞仪器创始人是原清华大学核物理研究院刘博士，他掌握了世界的光谱、质谱、色谱三大核心技术，对产品要求精益求精，把仪器的度管制在99.99%，检出限可达1ppm，重复稳定性达到0.1%以内，在同行相比天瑞技术。

五、售后服务

天瑞仪器在全国各省市建立了完善的服务网点，为所有的客户服务做到及时周到，售后服务2小时内响应，并上门快速解决问题，提供仪器终身维护保养。（与天瑞大公司，大品牌合作没有后顾之忧，我们让客户买的放心、用的安心。天瑞为您的企业发展之路保驾护航！）

该公司产品分类：原子吸收分光光度计 AAS 原子荧光光谱仪 AFS 光电直读光谱仪 OES 等离子体发射光谱仪 ICP 飞行时间质谱联用仪 iTOFMS 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS 液相色谱质谱联用仪 LC-MS 气相色谱质谱联用仪 GC-MS 波长色散X荧光光谱仪 WDX 能量色散X荧光光谱仪 XRF 电子电器玩具检测仪器金属合金钢铁汽车检测铜合金检测仪器 ROHS环保检测仪高效液相色谱仪镀层测厚仪器液相色谱仪

QuaNix4500德国尼克斯QuaNix4500涂镀层测厚仪

德国尼克斯QuaNix4500涂镀层测厚仪技术参数: 零位稳定：所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是测量的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保测量。德国尼克斯QuaNix4500涂镀层测厚仪无需校准：多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以不同温度下的测量精度。红宝石探头：探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。独特的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的和提高。单探头量程大：0－5mm 德国尼克斯QuaNix4500涂镀层测厚仪双功能用途：1. 测量钢、铁等铁磁性（Fe）金属基体上的非磁性涂镀层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等2.测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性（NFe）基体上的所有非导电层的厚度，如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、氧化层等。

QNix技术参数
型号	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基体	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探头形式	一体				一体、分体	无线分体
显示	LCD数字显示
测量范围	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
测量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
显示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作温度	－10 －＋60℃
温度补偿	0－50℃
存储	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900个测量值，999个数据组
数据传输	－			RS232打印、电脑
统计功能	－			平均值、最大值、最小值、标准偏差
超限报警	－					上下限
最小基体	10mm×10mm
最小曲率	凸、凹半径：3mm/25mm		凸半径：5mm，凹半径：25mm
最薄基体	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电源	5号电池2节		9V碱性电池1节			5号电池2节
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

该公司产品分类：红外热像仪硬度计过程校验仪示波器直流电源耐压测试仪信号发生器电池测试仪微电阻计 LCR测试仪电力质量分析仪热成像仪接地电阻测试仪兆欧表钳形表万用表电力测试仪器电子测试仪器色差仪光泽度仪

涂镀层测厚仪型号:5M287737

货号:

【产品简介】5M287737型涂镀层测厚仪是高新技术的结晶，它采用单片机技术，精度高，数字显示，示值稳定，功耗低，操作简单方便，单探头全量程，体积小，重量轻，具有存储，读出，低电压指示，其性能达到当代国际同类仪器的水平。【应用范围】5M287737涂镀层测厚仪采用磁性测厚法，可以方便无损的测量铁磁材料上非磁性涂（镀）层的厚度，如钢铁表面上的锌，铜，铬等镀层或油漆，搪瓷，玻璃钢，喷塑，沥青等涂层的测厚。5M287737涂镀层测厚仪广泛应用于机械，汽车，造船，石油，化工，电镀，喷塑，搪瓷，塑料等行业。【工作原理】5M287737型涂镀层测厚仪采用电磁感应测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确的测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。【性能指标】5M287737型测量范围：0～1500μm 测量精度：±3%厚度值＋1μm 存储容量：253个测量值六通道校准点储存带打印机、带日期时钟、日期显示，EL背光全中文汉显，不锈钢机壳外形尺寸：50X95X24mm最小示值：1μm 电源：3.6v充电电池单探头全量程测厚随机标准试片校正

产品图片

MiniTest600涂镀层测厚仪

MiniTest600涂镀层测厚仪德国EPK公司一直于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量仪器。作为无损涂层厚度测量领域的先驱，EPK公司与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了涂层厚度测量在世界范围内的标准化进程。大量的专利技术与成果表明EPK公司是该生产领域的佼佼者。仪器特点小巧实用、测量快速精确探头顶部由非常耐磨的硬质材料制成F型探头用于钢铁上的非磁性涂镀层，如油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等N型探头用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的所有绝缘层，如阳极氧化膜、油漆、涂料等FN型探头为开发的两用探头，可以在磁性和非磁性基体上自动转换测量技术参数测量范围误差最小曲率半径最小测量面积最小基体厚度显示测量单位校准方式统计数据接口电源仪器尺寸探头尺寸 F型：0～3000umN型：0～2000umFN型：0～3000um（F）；0～2000um（N）±2um或±2～4%5mm（凸）；25mm（凹）φ20mm0.5mm（F）；50um（N）4位数显，背光可选um-mils可选标准、一点、两点平均值、标准偏差S、读数个数n（最多9,999个）、最大值max、最小值min（不适合于B型）RS232（不适合于B型）2节5号电池64×115×25mmφ15×62mm 标准配置主机、探头、零板和厚度标准箔、电池、操作说明、仪器包可选型号MiniTest 600B(基本型，无统计功能和接口)MiniTest 600(统计型)

LE-370/LH-370/LZ-37涂镀层测厚仪（膜厚計）

技术参数

测量方式	电磁式	涡流式
探头型号	LEP-J（Fe）	LHP-J（NFe）
测量对象	磁性金属（铁、钢）上非磁性涂镀层	非磁性金属（非铁）上的绝缘层
测量范围	0～2500um（99mils）	0～1200um（47mils）
测量精度	<50um:±1um; 50～1000um:±2%; >1000um:±3%
分辨率	<100um:0.1um; >1000um:±1um
存储数据	约3000个
预存通道	电磁式和涡流式各50个，共计100个
显示方式	LCD数显
数据输出	连接电脑或打印机
电源	5#电池×4个
消费电量	80mW（不使用背光状态下）
电池寿命	100小时（不使用背光状态下连续使用的情况下）
室温要求	0～40℃
外形尺寸	主机：75（W）×145（D）×31（H）, 340g
标准配置	铁基体，非铁基体，标准片，V型块，主机皮套，电池×4个，使用说明书
可选附件	标准片，专用台架，软件，数据线，探头

MC-2000涂镀层测厚仪

MC-2000 A 型测量范围：0-1500um MC-2000 C 型测量范围：0-5000um MC-2000 D 型测量范围：10-9000um 可订做管道内涂（镀）层测头，30mm管径以上测量精度：±（3%厚度值+1）um 　　　　　　存储容量：253个测量值（带日期）（可连接打印机）时钟、日期显示 EL背光、全中文汉显、全属机壳测量材料：铁基外型尺寸：50×95×24mm

MikroTest G7/F7自动型涂镀层测厚仪

产品简介：

数学式覆层测厚仪,是德国EPK公司2002年推出的科技产品MIKROTSET7系列数学覆层测厚仪采用电磁原理,用于测量钢铁上的所有非磁性涂镀层厚度. 特点: 数学显示、清晰读值、自动测量用无损探头，高分辨率、高精度，测量快捷无需校准，检简便，可在任意向测量，测量范围更宽。

型号	MIKROTSET7G	MIKROTSET7F	MIKROTSET7S5	MIKROTSET7S15
测量范围	0~300µm	0~1.5mm	0.5~5mm	3~15mm
测量精度	±2µm或±3%	±5µm或±3%	±4%	±4%
最小分辨率	0.5µm	1µm	5µm	20µm
最小测量区直径	20mm	30 mm	50 mm	100 mm
最小曲率（凸/凹）半径	5/25 mm	8/25 mm	15/25 mm	100/150 mm
最小基体厚度	0.5 mm	0.5 mm	1 mm	7 mm