X射线荧光镀层厚度测量仪专场,X射线荧光镀层厚度测量仪商家多、资料全面第3组

X射线荧光镀层厚度测量仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 程控样品台：XYZ轴自动控制。 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为： 全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。CMI900/950主要技术规格如下：No. 主要规格规格描述1 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2 滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口3 准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)5 X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6 样品室 CMI900 CMI950－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能7 计算机系统配置 IBM计算机：1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。8 分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台中文分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围：Ti22 – U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算－测量自动化功能(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能(要求XY程控机构) 设定测量点One or Two Datumn (reference) Points on each file测量位置预览(图表显示)－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师－任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测，如Au karat评价

X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT-110

型号:SFT-110

测量元素:原子序号22（Ti）～83（Bi） X射线源:空冷式小型X射线管检测器:比例计数管准直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2种样品观察:CCD摄像头（可进行广域观察）对焦:激光点（自动）滤波器：一次滤波器：自动切换样品台（台式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:电脑、19寸液晶测量软件:薄膜FP法（最多5层膜、10种元素）、标准曲线法数据处理:配备有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全机构:样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能

配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110]，使操作性进一步提高。　　对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。　　为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。　　近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。

特点即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。　 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！以的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置

该公司产品分类： EO灭菌柜环氧乙烷灭菌器顶空气相色谱紫外可见分光光度计环氧乙烷残留量检测仪环氧乙烷灭菌柜环氧乙烷灭菌器仪器租赁泰斯肯扫描电镜莱伯泰科电感销售海光仪器二手仪器回收二手仪器销售二手仪器销售和回收仪器维修保养赛默飞世尔（热电）韩国赛可仪器瑞士万通仪器日本精工仪器

SFT-110X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

主要特点：

1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

提高样品定位的操作性。 2.微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

度提高膜厚测量的精度。 3.多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4.广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5.对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6.低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

产品规格：

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

SFT9500系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径

为 0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而

无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、

高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的

有害物质进行分析测量。

主要特点：

1.X射线发生系统采用了聚光导管由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，

从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

2.无需液氮的半导体检测器在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。

SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，

所以无需液氮。

3.能谱匹配软件（选配件）可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。

对识别材料十分有效。

4.块体检量线软件（适用于电镀液分析）（选配件）可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

5.绘图软件（选配件）将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

6.电镀液容器（选配件）

7.各种标准物质（选配件）

产品规格：

SFT9300系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

高速X射线管球的搭载，实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现

极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。

主要特点：

1.搭载了75W高性能X射线管。

2.搭载标准的Φ50μm微小准直管（最小Φ15μm）。

3.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。

4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。

5.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。

6.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。

7.利用伺服马达精确的驱动平台。

8.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。

产品规格：

SFT9200系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、

有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。

主要特点：

是SFT3000系列的后续机型。

1.依据照明，可以看到以前观察困难的样品。

2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。

3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。

4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。（任选）

5.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。（任选）

产品规格：

SFT-110X射线荧光镀层厚度测量仪

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日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的［X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110］，使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。

产品详细信息

仪器简介：

日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的［X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110］，使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。技术参数：

［主要产品规格］检测器：比例计数管X射线源：空冷式小型X射线管准直器： 0.1、0.2mmφ2种样品观察： CCD摄像头样品台：[固定] 535×530mm [电动] 260×210mm （移动量 X:250mm, Y:200mm）样品最大高度：150mm

主要特点：

［SFT-110的主要特征］1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。5. 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。6. 低价位

该公司产品分类：粘度计流变仪质构仪 X射线荧光镀层厚度测量仪粉体流动测试仪 ZATE电位分析仪 IKA PH计/电导率仪水分测定仪电子天平梅特勒

STF-110X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

品名	X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

型号

SFT-110

概要	1.即放即测！2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！3.可无标样测量！4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！

特长

［SFT-110的主要特征］ 1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

［主要产品规格］
检测器	比例计数管
X射线源	空冷式小型X射线管
准直器	0.1、0.2mmφ2种
样品观察	CCD摄像头
样品台移动量	250（X）×200（Y）mm
样品最大高度	150mm

该公司产品分类：手持式荧光分析仪镀层测厚仪荧光分析仪