日本日立高科X射线荧光镀层厚度测量仪润道精密华南华中区总代出厂价

   产 品 说 明

概述：

    是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、

    有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。

主要特点：

    是SFT3000系列的后续机型。
  1.依据照明，可以看到以前观察困难的样品。
  2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
  3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
  4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。（任选）
  5.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。（任选）
 
产品规格：
     

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日本日立高科X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110润道总代批发价

产 品 说 明

概述：

    即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

    可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

  1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

    提高样品定位的操作性。    2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

    度提高膜厚测量的精度。    3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。    4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。    5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。    6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

   

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日本日立高科X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110，专注金属厚度测量

概述：

    即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

    可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

  1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

    提高样品定位的操作性。    2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

    度提高膜厚测量的精度。    3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。    4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。    5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。    6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

   

 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日本日立高科X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9300系列，润道华南华中总代价格

概述：

    高速X射线管球的搭载，实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现

    极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。

 

主要特点：

  1.搭载了75W高性能X射线管。
  2.搭载标准的Φ50μm微小准直管（最小Φ15μm）。
  3.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
  4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。
  5.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
  6.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。
  7.利用伺服马达精确的驱动平台。
  8.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
 
产品规格：
     
 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日立仪器X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110华南区授权总代理报价

   产 品 说 明

概述：

    即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

    可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

  1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

    提高样品定位的操作性。    2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

    度提高膜厚测量的精度。    3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。    4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。    5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。    6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

   

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日立仪器X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110，华南区总代理

  产 品 说 明

概述：

    即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

    可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

  1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

    提高样品定位的操作性。    2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

    度提高膜厚测量的精度。    3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。    4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。    5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。    6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

   

 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日本日立FT9500X型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立FT9500X型X射线荧光镀层厚度测量仪

日本日立FT9500X型X射线荧光镀层厚度测量仪

日立（EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT9500系列产品,搭载了高性能X射线管，实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。

1．FT9500X搭载了50W高性能X射线管。2．FT9500X搭载毛细聚焦导管。3．容易对微小领域进行观察，FT9500X搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。4．依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。5．FT9500X搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。6．搭载了焦点切换功能，FT9500X能够对有高度的样品的低部分进行测定。7．FT9500X利用伺服马达精确的驱动平台。7．FT9500X运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。 

该公司产品分类： 离子色谱仪 X荧光光谱仪

日本日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪

日本日立FT110A型X射线荧光镀层厚度测量仪

日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列产品,搭载了高性能X射线管，实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。

1．FT110A搭载了50W高性能X射线管。2．FT110A搭载标准的Φ50μm微小准直管（最小Φ15μm）。3．容易对微小领域进行观察。FT110A搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。4．依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。5．FT110A搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。6．搭载了焦点切换功能，FT110A能够对有高度的样品的低部分进行测定。7．FT110A利用伺服马达精确的驱动平台。7．FT110A运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。

该公司产品分类： 离子色谱仪 X荧光光谱仪

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪

日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）,FT110A系列产品,搭载了性能X射线管，实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。1. 高速测量：通过X射线检测机的改良，对于极具代表性的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层测量，相比以前机型，效率提高了2倍以上。2. 对应超小型的芯片零部件的厚度测量（FT150h：FT150h通过最新开发的聚光导管，可以测量超小型芯片零部件（电容、电阻等）的电极部的镀层厚度测量。3. 兼顾安全性和简便性：采用防止X射线泄露的密集型框架和大开口且可以方便开启和关闭的样品门，兼顾安全性和简便性。「FT150L」可以对应最大600×600mm的大型线路板。

X射线荧光镀层厚度仪「FT150系列」（FT150／FT150h／FT150L）是采用聚光X射线的聚光导管，可对微小部的镀层厚度进行高速测量的高性能仪器。通过X射线检测仪器的改良，在线路板和连接器等使用的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层检测中，其测量速度与本公司以往机型（FT9500X，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT150h」里通过新开发的聚光导管也可以测量超小型芯片零部件的端子镀层厚度。而且跟以往机型相同，为操作员的安全和安心考虑，采用X射线泄露的可能性极小的密集型框架。新设计的样品室门采用大开口，同时保证了开启和关闭的便捷性。并且通过大型观察窗口，可以方便地取放和定位样品。另外，操作软件通过图标和便捷画面在提高了操作性的同时，可通过数据自动保存功能减轻操作员的业务。通过这些改进，「FT150系列」实现了高精度?迅速的镀层厚度测量，为测量工作的效率化和成本削减做出了贡献。     

该公司产品分类： 离子色谱仪 X荧光光谱仪

SFT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

    SFT9000系列里最好的机型“SFT9455”，搭载75W高速X射线管和双重检验装置（半导体检验装置十比

    例计数管）。适用“薄膜”、“金属膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜

    厚测量仪器。而且 “SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分分析。

 

主要特点：

    搭载双向分离工检测器（半导体检测器+比例计数管）：搭载在X射线能量分辨率上，优秀的半导体检测器
    （起作用液化氮）和计数率优秀的比例计数管，能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器，能够
    区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点：
  1.能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定。
  2.对于含Br的打印基板，可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定。　　　
  3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜。
  4.薄膜FP软件：对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域。
  5.适用测定极微小部分,15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。　　
  6.搭载75W高性能X射线管。
  7.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
  8.能够测定大型打印基板的大型平台。
  9.依据照明，能够观察以往难以观察的样品。
 10.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
 11.利用伺服马达精确的驱动平台。
 12.正确的对焦,利用激光能够正确得对焦测试样品。
 13.报告制作软件,运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。
 
产品规格：
     

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜
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