SFT9400系列南京镀层厚度测量仪，X射线荧光镀层厚度测量仪（SFT9400系列）,

产品简介

　　产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 　　产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455 　　产品特点： 　　★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器＋比例计数管） 　　可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。 　　能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量 　　对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 　　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 　　★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 　　对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域 　　★适用超微小面积的测量 　　标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。 　　★搭载了可3段切换的变焦距光学系统 　　★拥有防冲撞功能 　　★搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455） 　　★搭载激光对焦系统 　　★搭载测试报告自动生成软件 　　 　　产品特征：　　 　　为了对应电子工业当中越来越复杂的镀金工艺而设计，是在以往的SFT9300的基础上升级的产品。他继承了SFT9300的75W高功率X射线管，还配备双检测器（半导体检测器＋比例计数管）。是SFT9000系列里级的机型，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。 　　产品介绍： 　　SFT9400系列产品规格 　　型号：SFT9400／SFT9450／SFT9455 　　仪器的特长：微小面积对应及高性能型 　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi） 　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶） 　　管电压：50kV管电流：1.5mABe窗 　　滤波器：一次滤波器：Mo-自动切换 　　二次滤波器：无 　　照射方式:上方垂直照射方式 　　检测器:半导体检测器＋比例计数管（不需液氮的检测器） 　　仪器校正:自动校正＋手动校正 　　准直器（标准配置）:○型（4种） 　　安全性能:样品室门锁，样品防冲撞功能 　　样品图像对焦:有（激光对焦） 　　样品观察:CCD摄像头＋倍率光学器＋卤素灯照明 　　焦点切换功能:3段切换9400：10／40／70mm 　　9450：10／25／40mm 　　X-rayStation  台式电脑 　　（OS；MS-WindowsXP®） 　　打印  喷墨打印机 　　应用  单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 　　软件  块体FP法软件、薄膜FP法软件 　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像识别处理 　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正 　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类： 荧光分析 热分析 表面分析 拉拔仪 环境箱 测厚仪 建工 量具 无损检测 制样设备 硬度计 试验机 元素分析 仪器附配件 分析仪器 检测仪器 试验机

SFT9300南京X射线荧光镀层厚度测量仪

产品简介

　　适用于手机零件等微小的电子部件等样品，专门配备了微型准直器（最小15μm）和75W（50kV，1mA）高功率X射线管，满足测量微小区域及高精度的需求。测量样品的微小部时与以往的机种相比，得出相同度的前提下大大缩短了测量时间。（SFT9300、SFT9350、SFT9355）　　 　　产品介绍： 　　SFT9300系列产品规格 　　型号：SFT9300／SFT9350／SFT9355 　　仪器的特长：微小面积对应型 　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi） 　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶） 　　管电压：50kV管电流：1.5mABe窗 　　滤波器：一次滤波器：Mo-自动切换 　　二次滤波器：Co-自动切换 　　照射方式：上方垂直照射方式 　　检测器：比例计数管 　　仪器校正：自动校正 　　准直器（标准配置）：○型（三种） 　　□型（三种） 　　安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能 　　样品图像对焦：有（激光对焦） 　　样品观察：CCD摄像头＋倍率光学器＋卤素灯照明 　　焦点切换功能：3段切换9300：10／40／70mm 　　9350：10／25／40mm 　　应用  单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 　　软件  块体FP法软件、薄膜FP法软件 　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像识别处理 　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正 　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类： 荧光分析 热分析 表面分析 拉拔仪 环境箱 测厚仪 建工 量具 无损检测 制样设备 硬度计 试验机 元素分析 仪器附配件 分析仪器 检测仪器 试验机

SFT9200南京X射线荧光镀层厚度测量仪，SEIKOSFT3000改进机型

产品简介

　　是改进SEIKOSFT3000而上市的一种新产品，添加了SFT3000系列没有的激光对焦，自动样品台等功能，使使用者操作更简便更快捷的仪器。与他社仪器相比具有2048通道的MCA采样分析电路，大大减小了分析误差并配备了5种圆形，方形准直器，不受样品形状的影响能够更地进行测量。 　　 　　产品介绍： 　　型号：SFT9200／SFT9250／SFT9255 　　仪器的特长：广泛应用型 　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi） 　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶） 　　管电压：45kV管电流：1mABe窗 　　滤波器：一次滤波器：A1-自动切换 　　二次滤波器：Co-自动切换 　　照射方式：上方垂直照射方式 　　检测器：比例计数管 　　仪器校正：自动校正 　　准直器（标准配置）：○型（三种） 　　□型（三种） 　　安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能 　　样品图像对焦：有（激光对焦） 　　样品观察：CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明 　　焦点切换功能：3段切换9200：10／40／70mm 　　9250：10／25／40mm 　　应用  单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、无电解镍（最多可测5层） 　　软件  薄膜FP法软件 　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像处理 　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正 　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类： 荧光分析 热分析 表面分析 拉拔仪 环境箱 测厚仪 建工 量具 无损检测 制样设备 硬度计 试验机 元素分析 仪器附配件 分析仪器 检测仪器 试验机

SFT-110型南京X射线荧光镀层厚度测量仪

［SFT-110的主要特征］1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像测量位置。5. 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。6. 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。［主要产品规格］检测器： 比例计数管X射线源： 空冷式小型X射线管准直器： 0.1、0.2mmφ2种样品观察： CCD摄像头样品台移动量：250（X）×200（Y）mm样品最大高度：150mm
该公司产品分类： 荧光分析 热分析 表面分析 拉拔仪 环境箱 测厚仪 建工 量具 无损检测 制样设备 硬度计 试验机 元素分析 仪器附配件 分析仪器 检测仪器 试验机

SII日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪SFT110那家最便宜

    产 品 说 明

概述：

    即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

    可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

  1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

    提高样品定位的操作性。    2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

    度提高膜厚测量的精度。    3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。    4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。    5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。    6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

   

 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

SII日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9400系列价格多少

  产 品 说 明

概述：

    SFT9000系列里最好的机型“SFT9455”，搭载75W高速X射线管和双重检验装置（半导体检验装置十比

    例计数管）。适用“薄膜”、“金属膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜

    厚测量仪器。而且 “SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分分析。

 

主要特点：

    搭载双向分离工检测器（半导体检测器+比例计数管）：搭载在X射线能量分辨率上，优秀的半导体检测器
    （起作用液化氮）和计数率优秀的比例计数管，能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器，能够
    区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点：
  1.能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定。
  2.对于含Br的打印基板，可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定。　　　
  3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜。
  4.薄膜FP软件：对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域。
  5.适用测定极微小部分,15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。　　
  6.搭载75W高性能X射线管。
  7.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
  8.能够测定大型打印基板的大型平台。
  9.依据照明，能够观察以往难以观察的样品。
 10.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
 11.利用伺服马达精确的驱动平台。
 12.正确的对焦,利用激光能够正确得对焦测试样品。
 13.报告制作软件,运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。
 
产品规格：
     
 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

SII日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪华南区总代特优价

产 品 说 明

概述：

    X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径

    为 0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而

    无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、

    高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的

    有害物质进行分析测量。

 

主要特点：

  1.X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，

    从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

  2.无需液氮的半导体检测器 在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。

    SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，

    所以无需液氮。

  3.能谱匹配软件（选配件） 可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。

    对识别材料十分有效。

  4.块体检量线软件（适用于电镀液分析） （选配件） 可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

  5.绘图软件（选配件） 将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

  6.电镀液容器（选配件）

  7.各种标准物质（选配件）

 

产品规格：

     

 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

SII日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9300系列专注金属镀层测量

  产 品 说 明

概述：

    高速X射线管球的搭载，实现了高精度的测定。而且配合极微小准直器和光学变焦镜头可以实现

    极微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。

 

主要特点：

  1.搭载了75W高性能X射线管。
  2.搭载标准的Φ50μm微小准直管（最小Φ15μm）。
  3.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。
  4.依据照明能很容易对以前观察困难的样品进行观察。
  5.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
  6.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。
  7.利用伺服马达精确的驱动平台。
  8.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
 
产品规格：
     
 
 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

SII日本精工X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9200系列华南区总代理特优价

   产 品 说 明

概述：

    是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、

    有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。

主要特点：

    是SFT3000系列的后续机型。
  1.依据照明，可以看到以前观察困难的样品。
  2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
  3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
  4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。（任选）
  5.搭载了焦点切换功能，能够对有高度的样品的低部分进行测定。（任选）
 
产品规格：
     
 

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜

日本无损膜厚仪检测，X射线荧光镀层厚度测量仪润道精密华南区总代理特价

产 品 说 明

概述：

即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

 

主要特点：

1.通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

提高样品定位的操作性。 2.微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

度提高膜厚测量的精度。 3.多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4.广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5.对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6.低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

 

产品规格：

该公司产品分类： 尼康 卡规、角度尺、水平仪 步距规、 量块、测厚规 测长仪 数码工程打印机 其他各种常用量具 数显表、百分表、杠杆表 卡尺、千分尺、微分头 材料试验机 除锈油 美国施泰力 东京精密 三坐标测量机 涂层测厚仪 镀层测厚仪 测量投影仪、影像测量仪 电子天平、水分测试仪 色差、光泽计 齿轮测量仪 显微镜、内窥镜
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