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详细内容
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
ST-Thermal_X（PCsec）
半导体器件IGBT秒级功率循环试验台
用于 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的秒级功率循环试验
包括 功率循环·秒级&分钟级/Pcsec&PCmin，被动循环/TC，热阻（抗）/Rth/Zth，K曲线/Kcurve
♦电路原理简图
♦产品特点
品类齐全的DUT适配器（针对不同封装外观的器件及模块，提供专用的适配连接装置）；
系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点；
测试程序由计算机控制，按设定的程序进行自动测试，且系统采用内控和外控两种方式，便于工作人员操作；
脱机状态时，面板显示每个工位的壳温，试验电流、试验次数、加热时间、冷却时间等；
器件保护：被测器件及模块的特性变化超过限值后自动停止测试；
安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）；
智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传域网；
安全防护：系统具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护，结合远程测试能力确保操作人员安全。
配有漏电保护器及空气开关，对短路、过载及漏电等情况进行保护，设计符合CE认证；
♦技术规格
关键词：功率循环试验 秒级功率循环试验 分钟级功率循环试验
被动循环试验台（TC）
被动循环试验台（TC）
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
包括 功率循环·秒级&分 更多详细稳态热阻测试仪（Rth）
稳态热阻测试仪
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
包括 功率循环·秒级&分钟级/P 更多详细瞬态热阻抗测试仪
瞬态热阻抗测试仪
可测试 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性
包括 功率循环·秒级&分钟级/ 更多详细晶体管图示仪
可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数
（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
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