X射线测厚仪原理_厂家天瑞仪器

??XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

 

X射线测厚仪原理

??XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

 

X射线测厚仪适用范围

 

??XRAY测厚仪适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，XRAY测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

X射线测厚仪Thick800A仪器介绍

Thick800A是天瑞仪器销量多的镀层测厚仪；仪器采用上照式结构，测试，软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务及时。仪器性能特点1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，可以对同镀件不同部位测试厚度3.高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自动定位测试高度5.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐6.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点7.高分辨率探头使分析结果更加8.良好的射线屏蔽作用9.测试口高度敏感性传感器保护 仪器参数规格1   分析元素范围：S-U2   同时可分析多达5层以上镀层3   分析厚度检出限达0.005μm4   多次测量重复性可达0.01μm5   定位精度：0.1mm6   测量时间：30s-300s7   计数率：1300-8000cps8   Z轴升降范围：0-140mm9   X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D) 仪器软件优势:                                     仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。 测试实例镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
        
                                                                   铜镀镍件X射线荧光测试谱图 

样 品 名	成分Ni(%)	镀层Ni(um)
吊扣	100	19.321
吊扣2#	100	19.665
吊扣3#	100	18.846
吊扣4#	100	19.302
吊扣5#	100	18.971
吊扣6#	100	19.031
吊扣7#	100	19.146
平均值	100	19.18314
标准偏差	0	0.273409
相对标准偏差	0	1.425257

铜镀镍件测试值结论

实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果度高，速度快（几十秒），其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。

 

X射线测厚仪厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产镀层测厚仪，气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪，等离子发射光谱仪,ROHS分析仪，ROHS检测仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。

 

天瑞仪器镀层测厚仪展厅

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