X荧光金属膜厚测厚仪-阿仪网

产品简介

标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。 X光管。高度传

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公司简介

标准配置

开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。高低压电源。 X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机

X荧光金属膜厚测厚仪性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

X荧光金属膜厚测厚仪技术指标

型号：XTD

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。一次可同时分析多24个元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。

分析含量一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1% 工作稳定性可达0.1% 度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V,

建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

X荧光金属膜厚测厚仪广泛应用于高压开关、表面处理、PCB线路板、电子连接器、五金卫浴等企业中。

关键词： X荧光金属膜厚测厚仪

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