光学膜厚测试仪XD-1000
光学膜厚测试仪XD-1000技术指标 光学膜厚测试仪分析元素范围:硫(S)~铀(U) 同时检测元素:*多24个元素,多达5层镀层 检出限:可达2ppm,*薄可测试0.00 更多详细无损伤镀层XD-1000测厚仪
无损伤镀层XD-1000测厚仪技术指标 型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm。分析 更多详细XD-1000 电镀镍层测厚仪
电镀镍层测厚仪应用领域 汽车配件五金工具线路板半导体框架汽车空调设备端子连接器卫浴、首饰等。 电镀镍层测厚仪技术参数 元素分析范围:S-U含量分析范围:PPM-99%电压 更多详细XTU 无损金属镀层测厚仪
无损金属镀层测厚仪技术指标 型号:XTU名称:无损金属镀层测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度 更多详细