光学测量仪所有不同的厂家_第51页

光学测量仪产品及厂家

KC-24日本RION粒子计数器

日本rion粒子计数器kc-24 ( 光散射法）,液体粒子计数器，可检测从纯水到氢氟酸各种各样的液体。可测 0.1um 空气颗粒度仪kc-24

更新时间:2025-07-05

该公司产品分类：深圳市蓝星宇电子科技有限公司

KS-41A日本RION液体光学颗粒度仪

日本rion液体光学颗粒度仪ks-41a ( 光阻用），可检测光阻产品、sog 等产品中 0.15um 的颗粒。粒径范围（4个通道，出厂默认）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm

更新时间:2025-07-05

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KS-18F日本RION液体光学颗粒度仪

日本rion 液体光学颗粒度仪：ks-18f ( 光散射法）液体光学颗粒度仪 ks-18f宽广的测试范围，可测试 0.05~0.2um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。 可侦测到小粒径 0.05um 的粒子

更新时间:2025-07-05

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KS-42A,KS-42AF日本RION液体光学颗粒度仪

日本rion液体光学颗粒度仪ks-42a&42af ( 光散射法）,可测试 0.1~0.5um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。

更新时间:2025-07-05

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KS-42B,KS-42BF日本RION液体光学颗粒度仪

日本rion液体光学颗粒度仪ks-42b/42bf ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.2~2.0um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。

更新时间:2025-07-05

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KS-42C日本RION液体光学颗粒度仪

日本rion液体光学颗粒度仪ks-42c ( 光散射法）,宽广的测试范围，可测试 0.5~20um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。

更新时间:2025-07-05

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KS-20F日本理音RION粒子计数器

日本理音 rion 粒子计数器 ks-20f，检测粒径为0.02μm的颗粒，从0.02μm到0.08μm可达7个通道

更新时间:2025-07-05

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KC-01E日本理音RION粒子计数器

日本rion粒子计数器kc-01e ( 光散射法）,液体粒子计数器，测试粒径（5个通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm

更新时间:2025-07-05

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KC-03B日本理音RION粒子计数器

日本rion粒子计数器kc-03b ( 光散射法）,测试粒径（5个通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm

更新时间:2025-07-05

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DSC 300德国NETZSCH差示扫描量热仪

差示扫描量热仪dsc 300 ，是全面、可靠的dsc仪器系列，表征材料热性能游刃有余。

更新时间:2025-07-05

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LFA 467 HyperFlash德国NETZSCH 闪射法导热仪

lfa 467 hyperflash 闪射法导热仪，自由选择测试气氛，优化结构设置与闪射光源，16位自动进样器，高的测量效率，宽广的温度范围，灵活配备冷却系统，设计独特，性能优异，配备氙灯光源的，高温测试系统，宽广的温度范围，真空密闭炉体，确保气氛纯净，防止氧化，内置微型管式炉，更高的测量效率，高数据采集速率- 用于薄膜与高导热材料的解决方案

更新时间:2025-07-05

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Model 659OAI UV METER

oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor

更新时间:2025-07-05

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TFXRD-300/200日本理学X射线衍射仪

日本理学x射线衍射仪 tfxrd-300/200，适用于near-fab application的无损方式xrd·mapping tool有多种光学元件可选的高精度测角仪，用于氮化镓（gan)质量管理，可对应大规格晶圆的x射线衍射分析（xrd)系统

更新时间:2025-07-05

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TFXRD-300/200日本理学X射线衍射仪

更新时间:2025-07-05

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R1德国Optosol 涂层吸收率发射率检测仪

德国optosol r1 涂层吸收率发射率检测仪，用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度，其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°c

更新时间:2025-07-05

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K3德Optosol太阳能吸收率发射率检测仪

德optosol-k3 太阳能吸收率发射率检测仪，k3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体（作为热辐射源）和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。

更新时间:2025-07-05

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Absorber Control K1德国Optosol 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪

optosol absorber control k1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪，

更新时间:2025-07-05

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TriSOL AAA美国OAI标准太阳能模拟器

trisol aaa美国oai标准太阳能模拟器，低成本，标准太阳模拟器提供高度准直，均匀的光，几乎任何材料或产品暴露在阳光下长时间或短时间的基本测试。根据配置，这些太阳能模拟器的输出功率为350w-5,000w。

更新时间:2025-07-05

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TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美国OAI太阳能模拟器

tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美国oai太阳能模拟器，这些模拟器,取决于配置、输出额定350 w -5000 w。oai 3 a太阳模拟器可以提供一个范围的空气质量过滤器复制太阳能模拟太阳的光谱。目的探明oai透镜和镜像技术可以使一个广泛的接触区域。

更新时间:2025-07-05

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AE1/RD1美国 D&S 发射率测量仪

美国 d&s 发射率测量仪 ae1/rd1，是专门针对测量物体的辐射率设计的，ae1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件ae-ad1和ae-ad3探测头能使测量样品最小直径为1.0英（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。

更新时间:2025-07-05

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AutoWafe Pro.美国SONIX 晶圆检测设备

美国sonix 晶圆检测设备 autowafe pro.为全自动晶圆检测设计的机型，主要应用在bond wafer，mems 内部空洞、离层检测，tsv量测方面。

更新时间:2025-07-05

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4200A-SCS美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪

美国泰克tek keithley半导体参数分析仪4200a-scs ，加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。

更新时间:2025-07-05

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CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力显微镜

瑞士nanosurf 原子力显微镜coreafm ，非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, coreafm非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.

更新时间:2025-07-05

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HMS3000，HMS5000韩国Ecopia霍尔效应测量系统

韩国ecopia霍尔效应测量系统hms3000，hms5000，用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。

更新时间:2025-07-05

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H5000美国 MMR 霍尔效应测量系统

美国 mmr 霍尔效应测量系统 h5000，用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。

更新时间:2025-07-05

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KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S半导体测试探针台

半导体测试探针台kup007，emp100c，emp100b，emp50s

更新时间:2025-07-05

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SCALA德国Mecwins 扫描式激光分析仪

德国mecwins 扫描式激光分析仪scala，它是用激光入射扫描样品表面，收集反射信号得到样品表面的三维形貌和特征。

更新时间:2025-07-05

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FTPadv台式薄膜探针反射仪

ftpadv 台式薄膜探针反射仪台式薄膜探针反射仪ftpadv，ftpadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案，它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量，其精度低于0.3nm，膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作，该仪器包括了范围广泛的预定配方。

更新时间:2025-07-05

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FTPadv Expert综合薄膜测量软件

ftpadv expert 综合薄膜测量软件，光谱反射测量软件ftpadv expert是专门为测量和分析r(λ)和t(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到sentech光谱反射测量软件中，使得能够根据cauchy色散、drude振荡给出的参数描述和拟合材料。

更新时间:2025-07-05

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MDPinline光伏测量仪器

mdpinline 光伏测量仪器，一秒内完成正片晶片扫描。mdpinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的，它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计，mdpinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。

更新时间:2025-07-05

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MDPinline ingot光伏测量仪器

mdpinline ingot 光伏测量仪器，多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面，以1毫米的分辨率，无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动，以便测量所有的四个侧面。

更新时间:2025-07-05

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MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪

更新时间:2025-07-05

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MDPpro德国Sentech激动扫描系统

德国sentech激动扫描系统mdppro,少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(mdp)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。

更新时间:2025-07-05

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SenSol自动扫描薄膜测量仪器

sensol是sentech光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用sensol，可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性，从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。

更新时间:2025-07-05

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SENperc PV德国Sentech光伏测量仪

senperc pv 是perc电池制造质量控制的创新解决方案。senperc pv 测量al2o3/sinx堆叠层和用于钝化perc电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此，可以优化维护时间间隔。

更新时间:2025-07-05

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MDPspot德国Sentech光伏测量仪器

德国sentech光伏测量仪器mdpspot，具有成本效益的台式少子寿命测试仪mdpspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。

更新时间:2025-07-05

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RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统

薄膜反射和透射的在线监测系统 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是rt inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用ftpadv expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。

更新时间:2025-07-05

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RTMALD实时监测仪

sentech ald实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ald循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ald循环中的反应机理是sentech ald实时监测仪的主要应用。

更新时间:2025-07-05

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PSD-PF100-1A-0.5PSD-PF100-1A-0.5 电子除尘箱

电子除尘箱，可分水平送风和垂直送风两大类。电子除尘箱采用初效过滤器和高效过滤器对进入操作区的空气进行两过滤，可使工作区域的洁净度达到10、100。整体结构紧凑，外形美观，箱体全钢结构喷塑，操作台面采用不锈钢材质制造而成，经久耐用。可外接高纯氮气，氮气过滤组，使用万向管进行定位吹扫。可选配自动选转器（可正反转动），便于均匀选转。

更新时间:2025-07-05

该公司产品分类：普洛帝中国服务中心/陕西普洛帝测控