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光学测量仪产品及厂家
KS-18F日本RION液体光学颗粒度仪
日本rion 液体光学颗粒度仪:ks-18f ( 光散射法)液体光学颗粒度仪 ks-18f宽广的测试范围,可测试 0.05~0.2um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。 可侦测到小粒径 0.05um 的粒子
更新时间:
2025-07-05
KS-42A,KS-42AF日本RION液体光学颗粒度仪
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42a&42af ( 光散射法),可测试 0.1~0.5um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:
2025-07-05
KS-42B,KS-42BF日本RION液体光学颗粒度仪
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42b/42bf ( 光散射法),宽广的测试范围,可测试 0.2~2.0um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:
2025-07-05
KS-42C日本RION液体光学颗粒度仪
日本rion液体光学颗粒度仪ks-42c ( 光散射法),宽广的测试范围,可测试 0.5~20um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。
更新时间:
2025-07-05
KS-20F日本理音RION粒子计数器
日本理音 rion 粒子计数器 ks-20f,检测粒径为0.02μm的颗粒,从0.02μm到0.08μm可达7个通道
更新时间:
2025-07-05
KC-01E日本理音RION粒子计数器
日本rion粒子计数器kc-01e ( 光散射法),液体粒子计数器,测试粒径(5个通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新时间:
2025-07-05
KC-03B日本理音RION粒子计数器
日本rion粒子计数器kc-03b ( 光散射法),测试粒径(5个通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新时间:
2025-07-05
DSC 300德国NETZSCH差示扫描量热仪
差示扫描量热仪dsc 300 ,是全面、可靠的dsc仪器系列,表征材料热性能游刃有余。
更新时间:
2025-07-05
LFA 467 HyperFlash德国NETZSCH 闪射法导热仪
lfa 467 hyperflash 闪射法导热仪,自由选择测试气氛,优化结构设置与闪射光源,16位自动进样器,高的测量效率,宽广的温度范围,灵活配备冷却系统,设计独特,性能优异,配备氙灯光源的,高温测试系统,宽广的温度范围,真空密闭炉体,确保气氛纯净,防止氧化,内置微型管式炉,更高的测量效率,高数据采集速率- 用于薄膜与高导热材料的解决方案
更新时间:
2025-07-05
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新时间:
2025-07-05
TFXRD-300/200日本理学X射线衍射仪
日本理学x射线衍射仪 tfxrd-300/200, 适用于near-fab application的无损方式xrd·mapping tool有多种光学元件可选的高精度测角仪,用于氮化镓(gan)质量管理,可对应大规格晶圆的x射线衍射分析(xrd)系统
更新时间:
2025-07-05
TFXRD-300/200日本理学X射线衍射仪
日本理学x射线衍射仪 tfxrd-300/200, 适用于near-fab application的无损方式xrd·mapping tool有多种光学元件可选的高精度测角仪,用于氮化镓(gan)质量管理,可对应大规格晶圆的x射线衍射分析(xrd)系统
更新时间:
2025-07-05
R1德国Optosol 涂层吸收率发射率检测仪
德国optosol r1 涂层吸收率发射率检测仪,用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度,其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°c
更新时间:
2025-07-05
K3德Optosol太阳能吸收率发射率检测仪
德optosol-k3 太阳能吸收率发射率检测仪,k3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体(作为热辐射源)和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。
更新时间:
2025-07-05
Absorber Control K1德国Optosol 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪
optosol absorber control k1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪,
更新时间:
2025-07-05
TriSOL AAA美国OAI标准太阳能模拟器
trisol aaa美国oai标准太阳能模拟器,低成本,标准太阳模拟器提供高度准直,均匀的光,几乎任何材料或产品暴露在阳光下长时间或短时间的基本测试。根据配置,这些太阳能模拟器的输出功率为350w-5,000w。
更新时间:
2025-07-05
TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美国OAI太阳能模拟器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美国oai太阳能模拟器,这些模拟器,取决于配置、输出额定350 w -5000 w。oai 3 a太阳模拟器可以提供一个范围的空气质量过滤器复制太阳能模拟太阳的光谱。目的探明oai透镜和镜像技术可以使一个广泛的接触区域。
更新时间:
2025-07-05
AE1/RD1美国 D&S 发射率测量仪
美国 d&s 发射率测量仪 ae1/rd1,是专门针对测量物体的辐射率设计的,ae1测量样品最小直径为2.25英寸(5.7cm)。可选附件ae-ad1和ae-ad3探测头能使测量样品最小直径为1.0英(2.54cm),可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量,可以测量平行放置的多个样品。
更新时间:
2025-07-05
AutoWafe Pro.美国SONIX 晶圆检测设备
美国sonix 晶圆检测设备 autowafe pro.为全自动晶圆检测设计的机型,主要应用在bond wafer,mems 内部空洞、离层检测,tsv量测方面。
更新时间:
2025-07-05
4200A-SCS美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪
美国泰克tek keithley半导体参数分析仪4200a-scs ,加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (i-v)、电容-电压 (c-v) 和超快脉冲 i-v 测量。
更新时间:
2025-07-05
CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力显微镜
瑞士nanosurf 原子力显微镜coreafm ,非常智能地联合了原子力显微镜的核心部件来实现最多功能化与用户方便使用性. 正是由于这种基础的设计, coreafm非常合理的实现了最优化的原子力显微镜的功能.
更新时间:
2025-07-05
HMS3000,HMS5000韩国Ecopia霍尔效应测量系统
韩国ecopia霍尔效应测量系统hms3000,hms5000,用于研究半导体材料/光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
更新时间:
2025-07-05
H5000美国 MMR 霍尔效应测量系统
美国 mmr 霍尔效应测量系统 h5000,用于研究光电材料的电学特性,利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。
更新时间:
2025-07-05
KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半导体测试探针台
半导体测试探针台kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新时间:
2025-07-05
SCALA德国Mecwins 扫描式激光分析仪
德国mecwins 扫描式激光分析仪scala,它是用激光入射扫描样品表面,收集反射信号得到样品表面的三维形貌和特征。
更新时间:
2025-07-05
FTPadv台式薄膜探针反射仪
ftpadv 台式薄膜探针反射仪台式薄膜探针反射仪ftpadv,ftpadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 μm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围广泛的预定配方。
更新时间:
2025-07-05
FTPadv Expert综合薄膜测量软件
ftpadv expert 综合薄膜测量软件,光谱反射测量软件ftpadv expert是专门为测量和分析r(λ)和t(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析,这些参数都被加载到sentech光谱反射测量软件中,使得能够根据cauchy色散、drude振荡给出的参数描述和拟合材料。
更新时间:
2025-07-05
MDPinline光伏测量仪器
mdpinline 光伏测量仪器,一秒内完成正片晶片扫描。mdpinline是为高速自动扫描硅晶片而设计的,它以每片不到一秒的时间记录少子寿命的全部形貌。利用微波检测光电导率定量测量少子寿命。凭借其紧凑的设计,mdpinline可以灵活地集成在传送带上或晶片分选系统中。
更新时间:
2025-07-05
MDPinline ingot光伏测量仪器
mdpinline ingot 光伏测量仪器,多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面,以1毫米的分辨率,无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动,以便测量所有的四个侧面。
更新时间:
2025-07-05
MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪
mdpinline ingot 光伏测量仪器,多晶形貌少子寿命测量系统是为高产量生产用户而设计的。对于一个面,以1毫米的分辨率,无接触、无破坏地测量电阻率和少子寿命花费不到一分钟。电阻率和导电类型变化的自动扫描可用于质量控制和监测炉子性能。面可以自动转动,以便测量所有的四个侧面。
更新时间:
2025-07-05
MDPpro德国Sentech激动扫描系统
德国sentech激动扫描系统mdppro,少子寿命测量仪器的特征在于以1mm分辨率对500mm的一个面在不到4分钟内完成扫描。电阻率和少子寿命的测量完全无触摸。利用微波检测光电导率(mdp)同时测量少子寿命、光电导率、电阻率和p/n导电类型的变化。
更新时间:
2025-07-05
SenSol自动扫描薄膜测量仪器
sensol是sentech光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用sensol,可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性,从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。
更新时间:
2025-07-05
SENperc PV德国Sentech光伏测量仪
senperc pv 是perc电池制造质量控制的创新解决方案。senperc pv 测量al2o3/sinx堆叠层和用于钝化perc电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此,可以优化维护时间间隔。
更新时间:
2025-07-05
MDPspot德国Sentech光伏测量仪器
德国sentech光伏测量仪器mdpspot,具有成本效益的台式少子寿命测试仪mdpspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。 低成本桌面式寿命测量系统,用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。
更新时间:
2025-07-05
RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统
薄膜反射和透射的在线监测系统 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是rt inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作为内部参考测量。利用ftpadv expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。
更新时间:
2025-07-05
RTMALD实时监测仪
sentech ald实时监测仪是一种新型的光学诊断工具,是心灵超高分辨率的单一ald循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率,厚度,折射率),在短时间内开发新工艺、实时研究ald循环中的反应机理是sentech ald实时监测仪的主要应用。
更新时间:
2025-07-05
德国ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚测量仪
fr-mini 是一款紧凑型装置,专为大学教育和研究实验室设计,用于快速、准确和无损地表征各种不同的涂层。使用 fr-mini,用户还可以在较宽的光谱范围内轻松进行反射率和/或透射率测量。
更新时间:
2025-07-05
德国ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚测量仪
fr-pro 膜厚测量仪 用于表征1nm-3mm厚度范围内的 涂层的模块化和可扩展平台。
更新时间:
2025-07-05
德国TheMetrisis FR-Scanner自动化超高速薄膜厚度测绘
fr-scanner 是一款紧凑的台式测量工具,全自动测绘涂层的厚度,基底适用于晶圆,掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和准确地测量薄膜特性,比如厚度,折射系数,均匀性,色度等,真空吸盘可应用于任何直径或其它形状的样品。
更新时间:
2025-07-05
PSD-PF100-1A-0.5PSD-PF100-1A-0.5 电子除尘箱
电子除尘箱,可分水平送风和垂直送风两大类。电子除尘箱采用初效过滤器和高效过滤器对进入操作区的空气进行两过滤,可使工作区域的洁净度达到10、100。整体结构紧凑,外形美观,箱体全钢结构喷塑,操作台面采用不锈钢材质制造而成,经久耐用。可外接高纯氮气,氮气过滤组,使用万向管进行定位吹扫。可选配自动选转器(可正反转动),便于均匀选转。
更新时间:
2025-07-05
JTA-JUTI-X自动在线光学检测仪 单轨在线AOI SMT焊接炉后检测设备JTA-JUTI-X
aoi可以置于生产线上的多个位置,但有三个位子是主要的:1、锡膏印刷之后。将aoi的检测放在锡膏印刷机之后,这是个典型的放置位置,因为很多缺陷是由于锡膏印刷的不良所造成的,如锡膏量不足可能会导致元件丢失或开路的原因。2、回流焊,将检测设备放置于贴片后
更新时间:
2025-07-05
cpj-3007投影仪cpj-3007/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪
投影仪cpj-3007/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3000/3000z系列数字式测量投影仪结构紧凑,外形简洁美观,经济实用,可靠性好,它能够高效的对工件进行直接测量和比较测量,例如:冲压件、齿轮、螺纹、刀具等。在机械制造、电子、模具、仪器仪表和钟表等行业都得到了广泛的应用
更新时间:
2025-07-04
投影仪cpj-3007Z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪
投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3007z/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪
更新时间:
2025-07-04
投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪
投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪投影仪cpj-3010/测量投影仪/苏州投影仪/光学投影仪
更新时间:
2025-07-04
机械式轮廓测量投影仪参数,线缆绝缘厚度测量投影仪价格,电缆外被测量投影仪市场价格
机械式轮廓测量投影仪参数,线缆绝缘厚度测量投影仪价格,电缆外被测量投影仪市场价格是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:
2025-07-04
电线电缆测量投影仪轮廓测量投影仪批发,电线电缆厂用投影仪,低价电缆外被测量投影仪
轮廓测量投影仪批发,电线电缆厂用投影仪,低价电缆外被测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:
2025-07-04
最新线缆绝缘层测量投影仪价格,电缆外被厚度测量投影仪性能介绍,绝缘护套轮廓测试投影仪哪家好
绝缘护套测量投影仪,电缆外被测量投影仪,300测量投影仪是一种光、机、电一体化的精密高效光学计量仪器。测量投影仪被广泛应用于机械、仪表、钟表、电子、电缆、橡胶、弹簧五金、建材、轻工等各行各业以及院校、研究所、计量检定部门的计量室、试验室和生产车间。测量投影仪高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状。
更新时间:
2025-07-04
低倍测量投影仪,线缆光学投影仪,数字式电缆测量投影仪
低倍测量投影仪,线缆光学投影仪,数字式电缆测量投影仪被测工件y置于工作台上,在透射反射照明下,它由物镜0成放大实像y′(倒像)并经光镜m1与m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新时间:
2025-07-04
三丰CV-4500W4轮廓测量仪
三丰cv-4500w4轮廓测量仪,它是在z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使z1轴测量范围增大10mm同时减少工件的干扰。测臂安装部采用了磁性衔接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。它为高精度轮廓测量仪,通用行业域中,它率先在z轴上安装了数显标,保证测量的高分辨率和高精度
更新时间:
2025-07-04
三丰CV-4500S8轮廓测量仪
三丰cv-4500s8轮廓测量仪,它是在z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使z1轴测量范围增大10mm同时减少工件的干扰。测臂安装部采用了磁性衔接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。它为高精度轮廓测量仪,通用行业域中,它率先在z轴上安装了数显标,保证测量的高分辨率和高精度
更新时间:
2025-07-04
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