扫描电子显微镜（SEM）产品及厂家
德国ksi i-wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，在ksi i-wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测
更新时间:2025-09-02
ksi i-ingot型全自动晶锭分析检测系统,适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。
更新时间:2025-09-02
德国zeiss蔡司聚焦离子束扫描电镜fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新时间:2025-09-02
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it200 intouchscope ，是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察sem图像。zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，live analysis*2可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，smile viewtm lab能综合编辑观察和分析报告等。
更新时间:2025-09-02
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it500hr，采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。
更新时间:2025-09-02
日本jeol低温冷冻离子切片仪ib-09060cis，冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 离子切片仪 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
更新时间:2025-09-02
日本jeol截面样品抛光仪ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2025-09-02
日本jeol截面样品制备装置ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 截面样品抛光仪 ib-19520ccp，在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。配有传送机构，在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 软x射线分析谱仪，通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度ｘ射线ccd相机，实现了高的能量分辨率。 和eds一样可以并行检测，并且能以0.3ev(费米边处al-l基准)的高能量分辨率进行分析，超过了wds的能量分辨率。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 电子探针显微分析仪 jxa-ihp100，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪x射线探测器，组合使用wds和eds，能提供无缝、舒适的分析环境。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 聚焦离子束加工观察系统 jib-4000，配置了高性能的离子镜筒(单束fib装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行sim观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为tem成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与sem像比较，sim像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 双束加工观察系统 jib-4700f，该设备的sem镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、gb模式和in-lens检测器系统，在1kv低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得300na探针电流的浸没式肖特基电子枪组合，可以进行高分辨率观察和高速分析。
更新时间:2025-09-02
日本jeol 能量色散型x射线荧光分析仪 jsx-1000s，采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（fp法・检量线法）、rohs元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
更新时间:2025-09-02
德neaspec真空太赫兹波段近场光学显微镜hv-thz-neasnom，该套系统成功地继承了德国neaspec公司thz-neasnom的设计优势，采用专利保护的双光路设计，完全可以实现真空环境下太赫兹波段应用的样品测量。hv-thz-neasnom在实现30nm高空间分辨率的同时，由于采用0.1-3thz波段的时域太赫兹光源（thz-tds），也可以实现近场太赫兹成像和图谱的同时测量。
更新时间:2025-09-02
jsm-it800shl 是日本电子株式会社（jeol） 2020 年新推出的场发射扫描电镜，它秉承 jeol 热场发射扫描电镜 jsm-7900f 的大束流，高稳定性的传统，同时将分辨率提高到新的限，全新设计的超混合型物镜，高分辨率的获得以及磁性样品的观察都可以同时完成，而且标配 jeol 新开发的 neo
更新时间:2025-09-02
日本电子扫描电子显微镜jcm-700强大的"zeromag"功能，让您从光学显微镜的观察方式，轻松的无缝接轨到扫描电镜的影像观察。"live analysis"则实现了sem影像观察时实时的eds成份分析。
更新时间:2025-09-02
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2025-09-02
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2025-09-02
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型钨灯丝扫描电镜，具有体积小、操作简单、性能强、扩展功能丰富等特点。flexsem1000 ii配备了二次电子探测器和背散射电子探测器，可以观察样品的形貌和成分；同时具有低真空功能，可以直接观察不导电样品和含水样品；配合新增的sem-map光镜导航和5轴样品台可以快速、高效的完成观察任务。
更新时间:2025-09-02
sem扫描电镜，台式扫描电子显微镜在电子学研究中，扫描电镜主要可以用来观测及分析半导体、数据存储材料、太阳能电池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形态或缺陷 。
更新时间:2025-09-01
sem扫描电镜，台式扫描电子显微镜在电子学研究中，扫描电镜主要可以用来观测及分析半导体、数据存储材料、太阳能电池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形态或缺陷 。
更新时间:2025-09-01
蔡司电脑断层扫描测量机-多探头测量机设备;工业计算机断层扫描（ct）为您提供了quanxin的洞见，让您可以快速采集所有内部结构的体积。蔡司是快速ct的先驱，并且能够在生产周期中对组件进行完整的以体积为基础的检查。
更新时间:2025-09-01
超声扫描显微镜（sat）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可有效满足新能源、半导体、电力电子、热管理材料、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等行业需求。
更新时间:2025-09-01
蔡司lightsheet 7激光片层扫描显微系统，助您便捷地实现活体和透明化样品的多视角成像。设计的物镜能够匹配透明化样品的折射率，从厘米大尺寸的样品，到多维时空的活体成像，无论是观察长达数天的生物发育过程，还是捕捉快速运动的血流心跳，都能助您游刃有余完成。无需频繁更换物镜和样品仓，提升效率，在简单调焦中实现理想光切。无需再为制备样品而烦恼，操作简便。
更新时间:2025-08-30
日本东亚电波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數據處理裝置之間的通信，如導入lan的設施，可作遠距操作。擁有優越的擴張性、如增設pump、檢出器等的單元，可對應陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統可
更新时间:2025-08-26
日立高新扫描电子显微镜此外，还搭载了全新的导航功能“sem map”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现直观的视野移动。flexsem 1000 ii，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kv下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。
更新时间:2025-08-26
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜su9000日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜su9000是专门为电子束敏感样品和需300万倍稳定观察的半导体器件，高分辨成像所设计。紫外臭氧清洗机常用于扫描
更新时间:2025-08-26
日立高新扫描电子显微镜flexsem 1000 i扫描电子显微镜可对材料的表面进行高倍率观察及高精度元素分析，在纳米技术、生命科学、产品设计研发及失效分析等领域有着广泛的应用。flexsem 1000
更新时间:2025-08-26
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜su9000日本日立hitachi超高分辨场发射扫描电子显微镜regulus系列 的详细介绍 沿用"su8200系列"的冷场发射电子枪*2 采用电子束在fla
更新时间:2025-08-26
日立高新场发射扫描电子显微镜su8200系列日立高新场发射扫描电子显微镜su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新时间:2025-08-26
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入门微尺度分析扫描电镜，区别于落地式扫描电镜的笨重机身，cube-ⅱ smart占地面积小机身紧凑，仅需放在平稳的桌面上即可操作测量，无需特殊的安装环境。用户还可遵照客户服务指南来任意移动自己的台式sem设备。
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面扫描电镜是一款电镜能谱一体机产品，拥有高分辨的同时可以做ebs，方便用户进行亚微米及纳米分析，提供业性、整体性扫描电镜解决方案
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ桌面扫描电镜是一款紧凑型桌面扫描电子显微镜。区别于传统扫描电镜的笨重机身，cube系列占地面积小，便携性能好，无需特殊安装环境，用户可遵照客户服务指南任意移动sem设备，节约空间成本。
更新时间:2025-08-25
?em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入门微尺度分析扫描电镜，区别于落地式扫描电镜的笨重机身，cube-ⅱ smart占地面积小机身紧凑，仅需放在平稳的桌面上即可操作测量，无需特殊的安装环境。用户还可遵照客户服务指南来任意移动自己的台式sem设备。
更新时间:2025-08-25
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus电镜能谱一体机，是一款桌面紧凑型扫描电子显微镜。拥有集成能谱（eds）设备的同时确保高分辨成像功能的应用，简便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小区域，同时实现纳米分析与元素分析。多种显示模式为sem-eds材料表征需求的提供人性化的帮助。测量软件丰富多样，可满足您日常检验研究的所有需求。
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ桌面扫描电镜是一款紧凑型桌面扫描电子显微镜。区别于传统扫描电镜的笨重机身，cube系列占地面积小，便携性能好，无需特殊安装环境，用户可遵照客户服务指南任意移动sem设备，节约空间成本。
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ plus桌面扫描电镜是一款电镜能谱一体机产品，拥有高分辨的同时可以做ebs，方便用户进行亚微米及纳米分析，提供业性、整体性扫描电镜解决方案
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ桌面扫描电镜是一款紧凑型桌面扫描电子显微镜。区别于传统扫描电镜的笨重机身，cube系列占地面积小，便携性能好，无需特殊安装环境，用户可遵照客户服务指南任意移动sem设备，节约空间成本。
更新时间:2025-08-25
cube-ⅱ桌面扫描电镜是一款紧凑型桌面扫描电子显微镜。区别于传统扫描电镜的笨重机身，cube系列占地面积小，便携性能好，无需特殊安装环境，用户可遵照客户服务指南任意移动sem设备，节约空间成本。
更新时间:2025-08-25
最新产品
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