扫描电子显微镜（SEM）产品及厂家
jsm-it800shl 是日本电子株式会社（jeol） 2020 年新推出的场发射扫描电镜，它秉承 jeol 热场发射扫描电镜 jsm-7900f 的大束流，高稳定性的传统，同时将分辨率提高到新的限，全新设计的超混合型物镜，高分辨率的获得以及磁性样品的观察都可以同时完成，而且标配 jeol 新开发的 neo
更新时间:2025-12-15
德neaspec真空太赫兹波段近场光学显微镜hv-thz-neasnom，该套系统成功地继承了德国neaspec公司thz-neasnom的设计优势，采用专利保护的双光路设计，完全可以实现真空环境下太赫兹波段应用的样品测量。hv-thz-neasnom在实现30nm高空间分辨率的同时，由于采用0.1-3thz波段的时域太赫兹光源（thz-tds），也可以实现近场太赫兹成像和图谱的同时测量。
更新时间:2025-12-15
德国ksi i-wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统，在ksi i-wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测
更新时间:2025-12-15
ksi i-ingot型全自动晶锭分析检测系统,适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。
更新时间:2025-12-15
德国zeiss蔡司聚焦离子束扫描电镜fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新时间:2025-12-15
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it200 intouchscope ，是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察sem图像。zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，live analysis*2可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，smile viewtm lab能综合编辑观察和分析报告等。
更新时间:2025-12-15
日本jeol扫描电子显微镜 jsm-it500hr，采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。
更新时间:2025-12-15
日本jeol低温冷冻离子切片仪ib-09060cis，冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 离子切片仪 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0°到6°）的氩离子束通过遮光带照射样品，大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也好，对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
更新时间:2025-12-15
日本jeol截面样品抛光仪ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2025-12-15
日本jeol截面样品制备装置ib-19530cp，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 截面样品抛光仪 ib-19520ccp，在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且可以拆卸。配有传送机构，在隔离空气的环境下能完成从加工到观察的全过程。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 软x射线分析谱仪，通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度ｘ射线ccd相机，实现了高的能量分辨率。 和eds一样可以并行检测，并且能以0.3ev(费米边处al-l基准)的高能量分辨率进行分析，超过了wds的能量分辨率。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 电子探针显微分析仪 jxa-ihp100，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪x射线探测器，组合使用wds和eds，能提供无缝、舒适的分析环境。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 聚焦离子束加工观察系统 jib-4000，配置了高性能的离子镜筒(单束fib装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行sim观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为tem成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与sem像比较，sim像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 双束加工观察系统 jib-4700f，该设备的sem镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、gb模式和in-lens检测器系统，在1kv低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得300na探针电流的浸没式肖特基电子枪组合，可以进行高分辨率观察和高速分析。
更新时间:2025-12-15
日本jeol 能量色散型x射线荧光分析仪 jsx-1000s，采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（fp法・检量线法）、rohs元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
更新时间:2025-12-15
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。pure 具有全自动操作、15 快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。
更新时间:2025-12-12
第六代 phenom pro 台式扫描电镜是一款功能强大，轻松易用的多功能设备。长寿命、高亮度 ceb6 灯丝扩展了研究设备的功能，结合丰富的样品杯选件和拓展的全自动软件，phenom pro 可以适用于广泛的研究域。
更新时间:2025-12-12
加快材料研究的突破性进展，您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 phenom prox 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新时间:2025-12-12
放大倍数：20000x；分辨率：优于30nm；灯丝：1500小时ceb6灯丝抽真空时间：10；样品移动方式：自动马达样品台样品定位方式：光学和低倍电子双重导航样品导电性要求：无需喷金，直接观测绝缘体
更新时间:2025-12-12
加快材料研究的突破性进展，您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 phenom prox 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新时间:2025-12-12
加快材料研究的突破性进展，您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 phenom prox 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新时间:2025-12-12
加快材料研究的突破性进展，您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 phenom prox 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新时间:2025-12-12
第六代 phenom pro 台式扫描电镜是一款功能强大，轻松易用的多功能设备。长寿命、高亮度 ceb6 灯丝扩展了研究设备的功能，结 合丰富的样品杯选件和拓展的全自动软件，phenom pro 可以适用于广泛的研究域。
更新时间:2025-12-12
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 ceb6 灯丝和全新的聚焦系统，phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm，同时具有全自动操作、15 快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。
更新时间:2025-12-12
第六代 phenom pro 台式扫描电镜是一款功能强大，轻松易用的多功能设备。长寿命、高亮度 ceb6 灯丝扩展了研究设备的功能，结 合丰富的样品杯选件和拓展的全自动软件，phenom pro 可以适用于广泛的研究域。
更新时间:2025-12-12
飞纳扫描电镜是一款使用高亮度 ceb6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 350,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。
更新时间:2025-12-12
全新的易于学习的界面可帮助您快速掌握新信息，是各种应用的理想选择。phenom xl g2 升为全面屏成像，平均成像时间仅为 40 ，比市场上其他台式电镜的速度快 5 倍之多。系统可对大 100 x 100mm 的样品进行分析，8nm 的分辨率为分析提供更多的细节。利设计的放气/样品装载系统可以实现全快的放气/装载速度，并获得大的样品吞吐效率。
更新时间:2025-12-12
加快材料研究的突破性进展，您的实验室需要一台具备快速准确分析大量材料微观结构的扫描电镜。第六代 phenom prox 飞纳台式扫描电镜能谱一体机引入了全新一代操作系统，通过改进光路设计，将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新时间:2025-12-12
phenom pro 是飞纳（phenom）第七代高分辨率台式扫描电镜，采用一代 高亮度 ceb? 灯丝 与优化的电子光学系统，实现 优于 6 nm 分辨率，最高放大 350,000×， 轻松完成纳米级与亚微米级材料的微观形貌观察。相比上一代产品，分辨率提升约 20％，新增 实时 bse/se 混合图像（mix） 功能，为科研与工业检测带来更高效率与更精确的微观分析体验。
更新时间:2025-12-12
的易于学习的界面可帮助您快速掌握信息，是各种应用的理想选择。phenom xl g3 平均成像时间仅为 40 秒，比市场上其他台式电镜的速度快 5 倍之多。系统可对最大 100 x 100mm 的样品进行分析，8nm 的分辨率为分析提供更多的细节。专利设计的放气 / 样品装载系统可以实现全世界相对较快的放气 / 装载速度，并获得非常少有的比较高的样品吞吐效率。
更新时间:2025-12-12
飞纳电镜能谱一体机 phenom prox 是终的集成化成像分析系统。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。
更新时间:2025-12-12
飞纳电镜推出的 chemisem 技术，将 sem 形貌观察与 eds 成分分析相结合，让工作流程更加流畅，简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与 sem 图像的实时叠加，在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。
更新时间:2025-12-12
phenom maps 作为一款多模态多维度地图式图像自动采集及拼接软件，可自动获取大型图像数据集，并直观地组合和关联多种成像、分析模式，从而提供多尺度和多模态的表征数据。
更新时间:2025-12-12
的易于学习的界面可帮助您快速掌握信息，是各种应用的理想选择。phenom xl g3 平均成像时间仅为 40 秒，比市场上其他台式电镜的速度快 5 倍之多。系统可对最大 100 x 100mm 的样品进行分析，8nm 的分辨率为分析提供更多的细节。专利设计的放气 / 样品装载系统可以实现全世界相对较快的放气 / 装载速度，并获得非常少有的比较高的样品吞吐效率。
更新时间:2025-12-12
cv1000采用了双nipkow转盘共聚焦扫描器，它可以将活细胞成像实验中的光毒性和光漂白性降到低。在整个实验期间，该系统的培养平台可以保持实验样本（如柔弱的胚胎、ips/es细胞以及其它类型的细胞）的活性和温度的恒定。
更新时间:2025-12-12
phenom(飞纳) g2 pure（飞纳台式扫描电镜 标准版） 款性能和价格介于光学显微镜和传统大电镜之间的经济型台式扫描电镜，可用于测量亚微米尺寸的样品。phenom g2 pure 适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。
更新时间:2025-12-12
phenom prox （飞纳台式扫描电镜 能谱版）是phenom第三代产品，结合了表面成像功能和元素分析能谱eds功能，能谱仪 eds的可以准确的进行样品表面元素的定性和定量分析。
更新时间:2025-12-12
nanoanalysis系统由evex mini-sem，mini-sem，qdd先进的探测器技术和nanoanalysis软件组成。mini-sem是具有高清度，高放大率，高性能的台式扫描电子显微镜。mini-sem结合了传统sem的性能，但在大小，price和易操作方面超越了台式显微镜。
更新时间:2025-12-12
日立tm4000ⅱ扫描电镜独特的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察。 tm4000ⅱ优化提供5kv、10kv、15kv、20kv四种不同电压下的观察模式，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可采集四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。具有全新的sem-map导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出。配备大型样品仓，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。
更新时间:2025-12-12
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