薄膜测厚仪产品及厂家

MTM-10 &MTM-20薄膜厚度监测仪
仅适用于cressington sputter和carbon coaters高分辨率厚度监视器和厚度控制器基于以下原理:石英晶体的振荡频率由其上表面上的沉积膜的质量改变。电子测量该效果允许确定沉积膜的厚度。一旦将蒸发的材料的密度输入系统,就在范围为0-999.9纳米的四位led显示器上测量厚度为0.1nm的分辨率。
更新时间:2025-12-16
B7348手动薄膜厚度监视器
一种紧凑,低成本,基于微处理器的薄膜厚度监视器,可与琼脂系列涂层单元配合使用。这是一款紧凑型,低成本,基于微处理器的薄膜厚度监测仪,适用于琼脂系列涂层装置。*初设计用于电子显微镜应用,它也适用于复杂的沉积系统。双存储器存储两种沉积材料的参数。该系统使用安装在晶体支架中的6mhz石英晶体振荡器。控制单元具有数字读数,显示直接以纳米为单位的涂层厚度,分辨率为0.1nm。还可以输入加工因子以补偿样品和晶体位置的差异。膜厚监测仪的测量范围为0至999.9nm,并具有晶体寿命。升级套件允许在两个琼脂涂层机之间共享一个控制单元。
更新时间:2025-12-16

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