薄膜测厚仪产品及厂家
fr-scanner 扫描型光学膜厚仪主要由以下系统组成：a) 光学光源装置小型低功率混合式光源本系统混合了白炽灯和led灯，最终形成光谱范围360nm- 1100nm；该光源系统通过微处理控制，光源平均寿命逾10000小时；
更新时间:2025-12-16
fr-basic vis/nir基础型膜厚仪（紫外/近红外-高分辨率）光谱范围：350-1000nm ：α)卤钨光源系统tungsten halogen light source 全软件控制的光谱范围和辐照强度。小型光谱仪光谱范围(350nm-1000nm)，分辨精度可达3648像素， 16位级 a/d 分辨精度；配有usb通讯接口；光学连接器sma 905, 光谱仪功率：110vac/230vac – 60hz/50hz.10mm厚度的氧化铝面板，每英寸（25mm）间距，配有m6 (or ?”) 口径钻孔，用以安装光学部件。样品放置台，配有多点z轴聚焦和x-y轴移动调节。反射探针夹具调节范围 (200mm – 200mm – 60mm)，可在测试区域内精调节。β) fr-monitor膜厚测试软件系统，
更新时间:2025-12-16
仅适用于cressington sputter和carbon coaters高分辨率厚度监视器和厚度控制器基于以下原理：石英晶体的振荡频率由其上表面上的沉积膜的质量改变。电子测量该效果允许确定沉积膜的厚度。一旦将蒸发的材料的密度输入系统，就在范围为0-999.9纳米的四位led显示器上测量厚度为0.1nm的分辨率。
更新时间:2025-12-16
一种紧凑，低成本，基于微处理器的薄膜厚度监视器，可与琼脂系列涂层单元配合使用。这是一款紧凑型，低成本，基于微处理器的薄膜厚度监测仪，适用于琼脂系列涂层装置。*初设计用于电子显微镜应用，它也适用于复杂的沉积系统。双存储器存储两种沉积材料的参数。该系统使用安装在晶体支架中的6mhz石英晶体振荡器。控制单元具有数字读数，显示直接以纳米为单位的涂层厚度，分辨率为0.1nm。还可以输入加工因子以补偿样品和晶体位置的差异。膜厚监测仪的测量范围为0至999.9nm，并具有晶体寿命。升级套件允许在两个琼脂涂层机之间共享一个控制单元。
更新时间:2025-12-16
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