师大UV-313/340型紫外辐照计
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品牌名称：$brandModel.Title型号： 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/9 7:22:31
产品摘要：师大UV-313/340型紫外辐照计师大UV-313/340型紫外辐照计参数：
UV-313/340型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
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UV-313/340型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
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详细内容
师大UV-313/340型紫外辐照计参数：
UV-313/340型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
产品特点:
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示，带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口（USB冗余供电）
* 低电量提醒
* 自动延时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作，蜂鸣提示
主要技术指标：
| 探头（二选其一）： | UV-313nm 探头 | UV-340nm 探头 |
| 波长范围及峰值波长: | λ：(290～340)nm；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm |
| 紫外带外区杂光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% |
| 辐照度测量范围： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相对示值误差： | ±10%（相对与NIM标准） | |
| 角度响应特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 线性误差： | ±1% | |
| 短期不稳定性： | ±1%（开机30min后） | |
| 响应时间： | 1秒 | |
| 使用环境： | 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 电源： | 常规使用6F22型9V积层电池一只 亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电 整机功耗 ＜0.1VA | |
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