当前位置: 阿仪网 > 半导体行业专用仪器设备 > 组装与封装设备 > 其他 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 储能科学与工程试验设备 > 储能新材料电学综合测试系统/充放电储能密度测试/静电电压HC系列
储能新材料电学综合测试系统/充放电储能密度测试/静电电压
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型:旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问
(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累,可持续信赖
阿仪网旗舰版会员:15年
最后认证时间:
注册号:**** 【已认证】
法人代表: 【已认证】
参观次数:2491417
详细内容
新品推荐:储能新材料电学综合测试系统/充放电储能密度测试/静电电压
上架时间:1900/1/1
创新点:上市推广
储能新材料电学综合测试系统
随着能源需求的不断增加以及对环境友好能源的需求,新型能源储能材料的研究成为了当前的热门领域之一。在开发新一代的储能新材料时,对其性能的测试与分析是至关重要的一环,储能新材料电学综合测试系统可以通过各功能测试模块,系统的帮组科研人员从能量密度、功率密度、循环寿命、安全性四个方面对新材料性能进行分析检测,评估材料的性能指标,判断是否符合应用要求。
系统配置







测试模块
01.电压击穿(介电场强)
由能量密度可知,击穿场强相对于介电常数对于材料能量密度的影响更为突出,获得高能量密度对复合材料击穿场强提出了更高的要求。
通过上位机系统控制高压击穿测试模块,可以安全、便捷、准确的对测试样品进行工频下的交流、高压直流击穿试验,测试出击穿场强。甚至可以通过测试软件设置直流输出时间,以完成样品的极化过程。
02.高低频介电频谱、温谱
用于分析宽频、高低温环境下储能新材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。
03.高温绝缘电阻
的电压输出与电流测量,即使在高低温环境下可能很好的屏蔽背景电流,保障测试品质,适用与储能新材料在不同环境温度下绝缘性能的检测。
04.热释电测试
不论是薄膜还是块体形式的储能材料,都可对其进行热释电性能测试。采用电流法进行测量,材料的热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线。
05.TSDC热刺激极化电流
热刺激电流(TSC)是研究热释电材料中陷阱结构和陷阱结构所控制的空间电荷存贮及运输特性的工具,同时也是研究热点材料结构转变和分子运动的重要手段。诸如:分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等,通过TSDC技术也可以直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关介电特性、
06.充放电储能密度测试
用于研究介电储能材料高电压放电性能,同目前常见的方法是通过电滞回线计算高压下电介质能量密度,测试时,样品的电荷释放至高压源上,而非释放至负载上,也就是说,通过电滞回线测得的能量密度会大与样品实际释放的能量密度,不能正确评估储能材料的正常放电性能。华测充放电测试具有专门设计的电容放电电路来测量,首先将测试材料充电到给定电压,之后通过闭合高速MOS高压开关,将存储在储能材料中的能量释放到电阻器负载中,更符合电介质充放电原理。
07.电声脉冲法空间电荷测量
空间电荷是指在材料特定区域内电荷分布不均匀的现象。该现象是由于载流子的扩散和漂移运动所导致的,在材料的局部区域产生了电荷累积,从而使材料改变了原本的电中性状态。空间电荷的存在对材料的电学性能有着重要的影响,可能导致电场畸变、绝缘性能下降等问题。
电声脉冲法(PEA)空间电荷测试可以便捷准确地测量固体储能材料内部空间电荷分布,电声脉冲法可以测量较厚的介质,可以在带电状态下直接测量绝缘测试样品中的空间电荷分布,最小可测空间电荷密度为4µC·cm-3,最小可测试样厚度为0.2mm。
08.静电电压
静电是一种处于静止状态的电荷,虽然其总电荷量不大,但其瞬间释放所产生的高电压与大电流非常容易对周边电路、设备乃至人员造成损害。对储能材料的静电性能(包括面电荷密度与电阻)进行测试,可以对后期防静电工程设计和改善储能系统的抗静电性能设计提供数据支持,对周围电路的静电敏感电子元器件选型提供参考依据。
配置模块
功能 | 测试仪表 | 测试环境配件/夹具 | ||
电压击穿(介电场强) | 高压电源 | 变温油浴槽 温度范围:RT~250℃(视绝缘介质性能) | ||
高低频介电温谱 | 阻抗分析仪 | 高低温冷热台 温度范围:-185℃~600℃ | 高温近红外炉 温度范围:RT~1450℃ | 高低温环境箱 温度范围:-185℃~450℃ |
高温绝缘电阻测试 | 高阻计/源表 | 高低温冷热台 温度范围:-185℃~600℃ | 高温近红外炉 温度范围:RT~1450℃ | 高低温环境箱 温度范围:-185℃~450℃ |
热释电测试 | 高阻计/静电计 | 高低温冷热台 温度范围:-185℃~600℃ | 高低温环境箱 温度范围:-185℃~450℃ |
|
TSDC热刺激电流测试 | 高阻计/静电计 | 高低温冷热台 温度范围:-185℃~600℃ | 高低温环境箱 温度范围:-185℃~450℃ |
|
充放电储能密度测试 | 充放电测试模块 | 变温测试盒 温度范围:RT~250℃(视绝缘介质性能) | ||
静电电压 | 高阻计/静电计 | 静电变温测试罐 温度范围: | ||
空间电荷测试 | 示波器+高压电源+功率放大器 | 电声脉冲法空间电荷测试夹具 | ||
测试装置
(各测试夹具图片)
拓展资料
能量密度常用计算公式:
式中:Uc为电容器的充电能量密度;Ud为电容器的实际放电能量密度;E为外加电场;D为电位移;Dmax为最大电位移;Dr为剩余电位移;ε0为电介质的真空介电常数;εr为电介质的相对介电常数;Eb为击穿场强;η为充放电效率。
热门标签:空间电荷测试,充放电储能密度测试,高温绝缘电阻测试
















