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常规探针冷热台 二维材料变温I‑V测试
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：HC600-190-P8 原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/12 11:19:52
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常规探针冷热台 二维材料变温I‑V测试
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探针冷热台是一款针对研究样品变温电学性能测试而设计的产品，可表征样品电学性能随温度变化的特征。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，实现-180~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）范围内准确控制，与其他电学仪表（如源表、万用表等）搭配集成，进行变温原位测试。
产品需要与高低温温控仪（选配）配套使用，配套的的上位机温控软件方便进行温度设置及采集，提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。
冷热方式：液氮制冷，电阻加热
温控范围：-180℃~600 ℃/RT~1000℃（选型）
温度稳定性：±0.1 ℃
温度分辨率：0.1 ℃/0.1℃
升降温速率：0 ~ 30 ℃/min（可定点 / 程序段控温）
温控方式：PID控温
温度传感器：PT100
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
热门标签：探针冷热台,半导体变温电学探针台,P8,八探针冷热台
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