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Seebeck系数及电导率测试仪 热电优值ZT检测
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详细内容
Seebeck系数及电导率测试仪 热电优值ZT检测
1.宽温区覆盖与高适应性
支持RT至1500℃超宽温度范围,兼容低温至高温测试,满足热电材料、高温合金等多种材料研究需求
提供惰性、氧化、还原、真空多气氛环境,适配材料在不同反应条件下的性能评估
2.高精度与多功能集成
塞贝克系数电阻测试仪塞贝克系数测量范围1~2500µV/K,准确度达±7%,重复性±3%,准确捕捉微弱热电效应
电导率测量范围覆盖0.01~2×10^5S/cm,准确度±5~8%,支持从绝缘体到导体的全品类材料电阻率分析
采用静态直流法(塞贝克系数)与四端法(电阻率),确保测量结果稳定可靠
3.灵活兼容性与操作便捷性
支持圆柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面宽)及圆盘状(10~25.4mm)多种样品尺寸,适配复杂形状试样
可调探头距离(4/6/8mm)与三明治夹持结构,保障样品接触稳定性,减少测量误差
电极材料可选镍(-100~500℃)或铂(-100~1500℃),灵活应对不同温区与材料特性
4.高稳定性与长周期测试能力
电源输出0~1A,具备长期稳定性,支持连续高温实验与长时间数据采集
配备K/S/C型热电偶,实现准确温度监控与闭环控制
温度范围:RT~800/1100/1500℃
塞贝克系数测量范围:1~ 2500uV/K准确度±7%;重复性±3%
电导率测量范围:0.01~2*10^5s/cm准确度±5-8%;再现性±3%
电源:0~ 1A,具长期稳定性
电极材料:镍(-100至500“C)/铂(-100至+1500°C)
热电偶:K/S/C型
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

热门标签:封装材料塞贝克系数电阻测定仪,塞贝克系数电阻测试仪,半导体塞贝克系数电阻测试仪
















