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阵列电容温度特性分析仪 MLCC线阵凸阵相控阵批量检测
价格：￥ 电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：HCCT-40H 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:17:04
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详细内容
阵列电容温度特性分析仪 MLCC线阵凸阵相控阵批量检测
电容测量范围：1pF ~ 1µF
测量准度：±0.3%
测试频率：固定1kHz
测试电平：0.1V~0.3V
测量模式：Cp并联电容模式，适配电容测量特性
主控与测量单元：搭载LCR电桥模块，集成对应电容检测电路，支持多通道同步扫描，兼顾检测速度与测量准度；内置嵌入式主控，负责与上位机软件实时通信、传输采集数据。
测试板：预留通用接口，支持64/80/128通道测试线对接，集成通道切换电路，实现阵元自动扫描；配备防呆结构与静电防护电路，既防止测试线错插，也可规避静电击穿设备、被测物的风险。支持多通道测试线向下兼容。
定制化测试线：按不同被测物型号、通道数定制，接口与被测物准确匹配，采用阻隔线材，减少电磁干扰；每根测试线标注对应被测物型号、通道数，便于分类区分使用。
测试夹具与校准件：配备测试夹具、开短路校准件，用于减小引线、测试板的寄生电容误差；可选配标准电容套装，用于系统准度校准。
电源模块：交流220V输入、直流±15V输出，集成过载、短路、静电防护功能，保障设备与被测物检测稳定。
设备外壳：采用金属阻隔壳体，具备EMI阻隔性能，隔绝外界电磁干扰对测量准度的影响；整机体积适中、便于搬运，适配实验室、生产产线、维修现场多场景使用。
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
热门标签：储能电容器温度特性耐久性测试系统,电容器温度特性评估系统,多通道电容器温变特性测试系统
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