当前位置： 阿仪网 > 行业仪器 > 其他 > 其它 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 工程塑料绝缘材料系列 > 塞贝克系数电阻测试仪 > 华测仪器 塞贝克系数电阻测试仪 HC-RD-1100 测量半导体薄膜材料HC-RD-1100
华测仪器 塞贝克系数电阻测试仪 HC-RD-1100 测量半导体薄膜材料
价格：￥ 260000
品牌名称：北京华测型号：HC-RD-1100 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
支付方式：
- 支付宝 微信 银行转账
产品完善度： 访问次数：641
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型：旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累，可浏览访问
(41-90)良好信誉积累，可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累，可持续信赖
阿仪网旗舰版会员：15年
工商认证 【已认证】
最后认证时间：
注册号：**** 【已认证】
法人代表： 【已认证】
参观次数：2491417
详细内容
应用领域
01.热电材料开发与性能优化
测量半导体、方钴矿、Skutterudite等热电材料的塞贝克系数与电导率，计算ZT值（热电优值）
评估材料在高温（如1500℃）或极端环境（真空/还原气氛）下的热电转换效率
02.能源材料与器件研究
锂离子电池电极材料、固态电解质的电阻率与界面接触特性分析
燃料电池催化剂在氧化/还原气氛中的导电性能测试
03.电子与功能材料表征
半导体薄膜、导电高分子、金属氧化物的电输运特性研究
高温超导材料、陶瓷基复合材料的电阻-温度关系曲线测定
04.工业材料质量控制与工艺优化
合金、陶瓷、碳材料的热-电协同性能检测，指导烧结工艺参数调整
高温涂层、耐腐蚀材料在模拟工况（如真空、惰性气氛）下的电学行为评估
05.科研与标准化测试
高校及科研院所用于热电效应、导电机制等基础理论研究
依据国际标准（如ASTM E1225）开展材料热电性能认证测试
测试软件
经过专家团队与应用工程师的联合攻关，华测仪器研发出新一代智能测量软件。该软件深度集成计算机控制系统，适配Windows 10/11操作系统，可自动完成信号激励、数据采集、实时处理及结果输出全流程，并通过可视化界面直观呈现测试成果，显著提升了操作便捷性与测试效率。
特点
01.文本编辑
02.重复测量可少的输入参数
03.实时测量分析
04.测量曲线比较：多达32条曲线
05.曲线扣除
06.曲线放大缩小
07.一阶/二阶求导
08.多重峰分析
09.样品温度多点校正
10.多种方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）
11.焓变多点校正
12.热流Cp测量
13.评估结果保存及导出
14.ASCII数据导入与导出
15.数据生成到MS Excel
16.信号控制测量测序
产品优势
01.宽温区覆盖与高适应性
支持 RT 至 1500℃℃ 超宽温度范围,兼容低温至超高温测试,满足热电材料、高温合金等多种材料研究需求
提供惰性、氧化、还原、真空多气氛环境,适配材料在不同反应条件下的性能评估
02.与多功能集成
塞贝克系数测量范围 1~2500uV/K,准确度达 士7%,重复性 士3%,捕捉微弱热电效应
电导率测量范围覆盖 0.01~2x105S/cm,准确度士5~8%,支持从绝缘体到导体的全品类材料电阻率分析
采用静态直流法(塞贝克系数)与四端法(电阻率),确保测量结果稳定可靠
03.灵活兼容性与操作便捷性
支持圆柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面宽)及圆盘状(10~25.4mm)多种样品尺寸,适配复杂形状试样
可调探头距离(4/6/8mm)与三明治夹持结构,保障样品接触稳定性,减少测量误差
电极材料可选镍(-100~500°C) 或铂(-100~1500°C),灵活应对不同温区与材料特性
04.高稳定性与长周期测试能力
电源输出 0~1A,具备稳定性,支持连续高温实验与长时间数据采集
配备K/S/C型热电偶，实现温度监控与闭环控制
技术指标
01.温度范围：RT ～ 800/1100/1500℃
02.测量原理塞贝克系数：静态直流法 ； 电阻率：四端法
03.气氛：惰性、氧化、还原、真空
04.样品支架：三明治结构夹与两电极之间
05.样品尺寸（圆柱形或棱柱形）：2至5 mm（面宽），23mm，φ6mm，23mm
06.样品尺寸（圆盘状）：10、 12.7、 25.4 mm
07.可调探头距离：4、 6、 8 mm
08.塞贝克系数测量范围：1 ～ 2500µV/K准确度±7%；重复性±3%
09.电导率测量范围：0.01 ～ 2*10^5s/cm准确度±5-8%；再现性±3%
10.电源：0 ～ 1A，具稳定性
11.电极材料：镍（-100至500°C）/铂（-100至+1500°C）
12.热电偶：K/S/C型
热门标签：塞贝克系数电阻测试仪,半导体薄膜材料,热电材料开发与性能优化
