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华测 HCLD-2 半导体封装材料低压漏电起痕试验仪 耐电痕化指数仪
价格：￥ 电议
品牌名称：北京华测型号：HCLD-2 原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:16:36
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企业档案
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注册号：**** 【已认证】
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详细内容
产品优势
01.带有滤波、隔离 变压器、稳压变压器
02.自动化程度高
03.带有排风口
04.具有数据数显、存储功能
05.过流保护、过压 保护、门限保护等
产品参数
01. 试验电压：25 ~ 800V 可调（可选200V~1000V可调）
02. 控制方式：PLC+10寸触摸屏控制系统
03. 滴液高度：30～40mm 连续可调
04. 试验电压压降：≤5%
05. 通滴液次数：0~9999次可调
06. 电极距离：4.0mm ± 0.1mm ，夹角 60°±5
07. 电极压力：1.0±0.05N(可调)
08. 滴液间隔时间：可任意设定
09. 试验电流量程：3A
10. 试验舱材料：PC塑料
11. 滴液大小：（20.0～23.0）mm3 连续可调
12. 操控方式：10寸触摸屏
13. 电极材料：电极头铂金、电极杆纯银
14. 漏电判断：电流大于0.5A并维持2秒钟切断
15. 试验终止：50滴或100滴及漏电流≥ 0.5A并维持时间≥2s时自动终止
16. 供电电源：220V 50Hz 10A
应用领域
低压漏电起痕试验仪是评价电工电子产品中使用的固体绝缘材料公优劣的重要指标，被广泛应用于电工电子、电器、半导体封装、信息技术设备等领域。
热门标签：低压漏电起痕试验仪,,耐电痕化指数仪,半导体封装材料
