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半导体低压漏电起痕试验仪
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详细内容
半导体低压漏电起痕试验仪
耐漏电起痕试验(电痕化指数试验)是根据 UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等标准规定的模拟仿真试验项目。耐漏电起痕试验(电痕化指数试验)是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的铂电之间,施加某一电压并定时 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下规定液滴体积的导电液体 (0.1%NH4CL) ,用以评价固体绝缘材料表面在电场和潮湿或污染介质联合作用下的耐漏电性能,测定其相比电痕化指数 (CTI) 和耐电痕化指数(PTI) 。电痕化是指固体绝缘材料在电应力和电解杂质的联合作用下,在表面(或内部)产生导电通道。

半导体低压漏电起痕试验仪的优势

产品型号:HCLD-2
1.试验电压:50V-800V可调(可选200V-1000V可调)
2.控制方式:PLC+10寸触摸屏控制系统
3.滴液高度:30~40mm 连续可调
4.试验电压压降:≤5%
5.通滴液次数:0~9999次可调
6.电距离:4.0mm ± 0.1mm ,夹角 60°±5
7.电压力:1.0±0.05N(可调)
8.滴液间隔时间:可任意设定
9.试验电流量程:3A
10.试验舱材料:PC塑料
11.滴液大小:(20.0~23.0)mm3 连续可调
12.操控方式:10寸触摸屏
13.电材料:电头铂金、电杆纯银
14.漏电判断:电流大于0.5A并维持2钟切断
15.试验终止:50滴或100滴及漏电流≥ 0.5A并维持时间≥2s时自动终止
16.供电电源:220V 50Hz 10A
Beijing Huatang Test Instrument Co., LTD., the company focuses on insulation materials and advanced functions of new materials electrical performance testing and materials electrical measurement and control equipment research and development and manufacturing, in the test and measurement industry has accumulated a wealth of new product research and development, system integration development experience. The company has two electrical laboratories of functional materials and electrical insulation materials; Together with our partners, we strive to develop electrical testing equipment for materials. The company adheres to user demand-oriented, and continues to innovate based on user needs, winning the respect and trust of users.
Electric test force, build new material dream.

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