当前位置: 阿仪网 > 物理仪器 > 试验机 > 材料试验机 > 北京华测试验仪器有限公司 > 产品展示 > 高低温环境试验设备 > 高低温冷热台 > 样品气氛控制解决方案----高低温冷热台HCP650-PM
样品气氛控制解决方案----高低温冷热台
新品推荐
- 空间电荷测试系统
- 铁电分析仪
- 高压功率放大器
- 冷热台
- 探针台
- 高压漏电起痕试验仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高温绝缘电阻率测试仪
- 50点耐压测试系统
- 耐电弧试验仪
- 电压击穿试验仪
- 绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
- 电容器温度特性评估系统
- 高电场介电、损耗、漏电流测试系统
- 表面电位衰减系统
- 压电材料应变测试仪
- 导通电阻测试系统
- 变频电压击穿试验仪
- 真空晶圆退火炉
- 多功能任意波高压薄膜极化装置
- 高压直流电导测试系统
脉冲发生器
功率放大器系列
- 200V高压放大器
- 500V高压放大器
- 500V多通道高压放大器
- 700V高压放大器
- 1kv高压放大器
- 2kv高压放大器
- 2kv多通道高压放大器
- 4kv高压放大器
- 5kv高压放大器
- 5kv-HS高压放大器
- 8kv高压放大器
- 10kv高压放大器
- 10kv-HS高压放大器
- 20kv高压放大器
- 20kv-HS高压放大器
- 30kv高压放大器
- 40kv高压放大器
- 7kV高压放大器
- 50kV高压放大器
- 25kv高压放大器
工程塑料绝缘材料系列
- 高低温环境击穿耐压测试平台(变温电压击穿)
- 高压直流电源
- 高压漏电起痕试验系统
- 导电与防静电体积电阻率测试仪
- 绝缘诊断测试系统
- 耐腐蚀老化试验平台
- 绝缘材料电阻评价平台
- 大电流起弧试验仪
- 半导体封装材料TSDC测试平台
- 低压漏电起痕试验系统
- 工频介电常数测试仪
- 电压击穿试验仪
- 耐电弧试验仪
- 表面、体积电阻率测试仪(高阻计)
- 空间电荷测量系统
- 耐压绝缘测试仪
- 电容器温度特性评估系统
- 传感器多功能综合测试系统
- 介质损耗分析系统
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 高频高压绝缘电阻、介电测试系统
功能材料系列
- 漆包线击穿耐压试验仪
- 高温介电温谱仪
- 高压极化装置
- TSDC热刺激电流测试系统
- 红外光纤激光测振仪
- TSDC热激励去极化电流系统
- 铁电分析仪2000
- 铁电分析仪3000
- 铁电测试系统
- 高温绝缘电阻测试仪
- 半导体封装材料TSDC测试系统
- 电介质充放电测试系统
- 阻抗分析仪
- 功能材料电学综合测试系统
- 高压薄膜极化装置
- 探针台
- 压电系数测试仪
- 多通道介电/电阻测试模块
- 锂离子电池隔膜电弱点测试仪
- 闭孔温度破膜温度测试仪
- 50点耐压测试系统
- 高低温冷热台
- 储能新材料电学综合测试系统
- 热释电系数测试仪
- 高温介电温谱测试仪
- 教学用铁电分析仪
- 塞贝克系数电阻测试仪
- 压电陶瓷强场介电性能分析仪
高压电源与高压驱动装置
半导体封装材料测试系统
储能科学与工程试验设备
改性塑料试验设备
绝缘材料试验设备
- 绝缘耐压测试仪
- 导电防静电体积电阻率测试仪
- 工频介电常数介质损耗测试仪
- 低压漏电起痕试验仪
- 高压漏电起痕试验仪2
- 耐电弧试验仪
- 表面体积电阻率试验仪
- 电压击穿试验仪
- 真空电热老化测试系统
- 多通道介电/电阻测试模块
- VD系列高压探头
- HCVD系列电阻分压器
- 半导体高低温绝缘电阻测试系统
- 多通道电流矩阵模块
高低温环境试验设备
静电试验设备系列
国标设备
附件及配件
冷热台系列
- TEC(帕尔贴)冷热台
- PE120帕尔贴冷热台
- 1400℃超高温原位光学加热台
- 1500℃超高温原位光学加热台
- -120℃~600℃光学冷热台
- -190℃~600℃光学冷热台(XY)
- 原位拉伸台
- 常规探针冷热台
电线电缆行业设备
企业档案
会员类型:旗舰版
已获得阿仪网信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问
(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累,可持续信赖
阿仪网旗舰版会员:15年
最后认证时间:
注册号:**** 【已认证】
法人代表: 【已认证】
参观次数:2491080
详细内容
新品推荐:样品气氛控制解决方案----高低温冷热台
上架时间:1900/1/1
创新点:HCP650-PM温控探针台可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。 其可在-190°C ~ 600°C范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。 探针台上盖与底壳构成—个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。
HCP650-PM温控探针台,是一款温度范图-190°C~600°C 的温控探针台。 使用时还可对样品气氛进行控制。 这样即使在极低温度下,腔体也不产生结霜影响实验, 又可以防止样品发生氧化。此款温控探针台通过杠杆式支架, 使用的是弯针探针。 相比传统的直针探针, 这种设计不仅点针更准确, 而且点针力度更大, 和样品的电接触性更胜一筹。
冷热台可配合KEITHLEY Keysight等国际品牌测量源表进行电学性能测量。
高低温冷热台
一、高低温冷热台简介:
HCP650-PM是一款温度范围-190C~600C的温控探针台。使用时还可对样品气氛进行控制。这样即使在低温度下,腔体也不产生结霜影响实验,又可以防止样品发生氧化。
此款温控探针台通过杠杆式支架,使用的是弯针探针。相比传统的直针探针,这种设计不仅点针更准确,而且点针力度更大,和样品的电接触性更大。冷热台可配合KEITHLEY Keysight等国际品牌测量源表进行电学性能测量。
HCP650 PM可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在-190°C ~ 600°C范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜,或高温下氧化。

二、高低温冷热台设备优势:

温控&加热参数:

HCP650-PM可单独使用,也可搭配显微镜/光谱仪使用。其可在-190°C ~ 600°C范围内控温,同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个气密腔,可往内充入氮气等保护气体,来防止样品在负温下结霜, 或高温下氧化。
三、温控探针台产品特点:
1、可编程精密控温。可独立控制
2、探针需开盖移动,样品台面电接地
3、4探针,分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口杠杆式探针支架,电接触性更好,弯针探针,点针更准确
4、默认气密腔室,2个快速自锁接头,可充保护气体 上盖带有样品观察窗
5、内置干燥气体管道,用千负温时对视窗的除霜
6、视窗可拆卸与更换,不同材质窗片实现不同观察

四、温控探针台温控参数:
温度范围-190°C ~ 600°C (负温需配液氮制冷系统)
传感器/温控方式1000铅° RTD / PID控制° (含LVDC°降噪电源)
加热/制冷速度:+80 (/min (100 (时)-50 (/min (100°(时)
小加热/制冷速度:±0.01°C /min
温度分辨率:0.01°C
温度稳定性:±0.05°C(>25°C),±0.1°C(>25°C)
软件工程:可设温控速率,可设温控程序,可记录温控曲线

加热参数
加热区/样品区: 28mm x30 mm
样品腔高:6.3mm *样品厚度由探针决定
放样:打开上盖后置入样品再点针,关上盖后无法移动探针
气氛控制:气密腔,可充入保护气体
外壳冷却:可通循环水,以维持外壳温度在常温附近
安装方式:水平安装或垂直安装
台体尺寸/重量:180mm x 130 mm x 26 mm/ 1500g
热门标签:高低温冷热台,冷热台,温控探针台













