高加速老化试验箱是为评估非气密性固态器件在潮湿及电偏压的环境中的可靠性。这是一种高度加速试验，在非冷凝条件下利用温度和湿度加速水汽通过外部保护材料（封装材料或密封件）或沿着外部保护材料和金属导体之间的界面渗透。该试验依据JEDEC 22标准，此测试用于识别封装内部的故障机制，具有破坏性。
HAST高加速老化试验箱主要用于对电工、电子产品、半导体、IC芯片、固态存储器、DRAM、闪存卡及模块、元器件、零部件、金属材料、塑料晶体管外形封装等产品测试。
HAST可靠性试验机，高加速寿命试验箱技术性能：

温度范围: 105℃～147℃( 蒸气温度 )

湿度范围: 75~100 % （蒸气湿度）
湿度控制稳定度：±3%RH

使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)

时间范围: 0Hr～999 Hr

加压时间: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2约45 分
温度波动均匀度: ±2℃

温度显示精度：0.1℃

压力波动均匀度 : ±0.1Kg

湿度分布均度：±3%RH
内尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L
内桶材质: SUS# 316不锈钢板材质
外箱材质: 冷轧板喷塑