冷热冲击测试机（也称为热流仪、冷热循环冲击测试机）适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯（如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

冷热冲击测试机，冷热循环气流仪主要性能

1、冷热循环气流仪符合国内元件（GJB系统）测试要求，JEDEC测试要求等标准。

2、设备类型：接普通压缩过滤空气的工作模式机型，配套管道，转接头以及提供安装。

3、设备供气气体温度：-55℃ to +125℃ in< 10s，+125℃ to -55℃ in< 15s。

4、温度精度：±1℃

设置能力：0.1℃

显示能力：0.1℃

稳定性：0.1℃

温度传感器：支持T型或者K型

温度校正：设备软件控制

温度爬升率：1℃ to 999 ℃min. or max.

5、系统输出的气流量：5~20 SCFM(2.3-9.4 l/s). 设置能力：1 SCFM

6、触摸屏控制器功能：

手动操作模式和程式化操作模式；

屏幕需要显示控制模式、设定温度、感温传感器模式与温度显示、输出气流量、升降手臂按键、快捷温度设定等参数；

操作系统需要稳定的工业等，非windows系统。

7、手臂的要求：由马达控制其升降（手动的升降亦可行），平面旋转角度350°。手臂具备升降按钮。

8、支持GPIB通讯接口。