SR⁻⁷50是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计,SR⁻⁷50配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR⁻⁷50可以配用多种附件,拓展应用领域,在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供优质的系统解决方案。
主要特点: - 分辨率*高可达0.02nm
- 出厂预校准,开箱即可使用
- 多路光谱优化光路,低串扰,高密度多路光谱探测
- USB2.0 接口,即插即用
- 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息,便于以后光栅升级
- 双探测器出口选项,可安装不同类型探测器满足不同实验需求
- 多样化的附件选择
- 支持单点探测器,波长*大可达12um
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技术参数:
| 焦距长度 | 750mm |
| 通光孔径 | f/9.7 |
| 焦平面尺寸 | 28mmX14mm |
| 光谱分辨率 | 0.02nm @ 2400 l/mm @ 300 nm |
| 波长重复性 | 10pm |
| 光栅尺寸 | 68mmX68mm |
| 外形尺寸 | 860X393X213.5 |
| 重量 | 35Kg |
Andor Shamrock系列通用光栅光谱仪
焦距长度163mm、303mm、500mm、750mm三光栅光谱仪,满足不同分辨率需求。波长范围涵盖200nm~12um。谱仪可配置双入双出结构,满足不同光路需求。并可配合Andor各种科学级CCD、EMCCD、ICCD、InGaAs阵列以及单点探测器。