无狭缝平场极紫外光谱仪

· 平场掠入射光谱仪

· 专有无狭缝设计，实现最高效率

· 波长范围：1–200 nm

· 集成光束分析仪（Beam Profiler）

· 模块化、一体化交钥匙设计

maxLIGHT 采用专有的无狭缝设计，实现了最大光收集效率。其像差校正的平场光谱覆盖范围为 1–200 nm，并支持宽光谱带宽，例如单块光栅可覆盖 5–80 nm 的波段范围。

模块化设计可适配多种实验几何结构和配置需求。maxLIGHT 配备集成式狭缝支架、滤光片插入单元，以及电动光栅定位系统。

探测器可选配置包括：

· XUV CCD 探测器

· MCP/CMOS 探测器 —— 提供最宽波长覆盖范围，并支持门控/增强型探测器

如需进一步匹配您的实验需求，欢迎联系我们进行详细讨论。

此外，我们还可提供 maxLIGHT 光谱仪的定制化衍生版本。

无狭缝设计（No-slit Design）

HP Spectroscopy 专有的光谱仪设计采用直接源成像（Direct Source Imaging）方式，因此无需使用传统的窄入射狭缝，从而提升光收集效率。

与传统光谱仪结构相比，该设计可使进入探测器的光通量提高约 20倍。同时，这种架构也显著提升了日常运行的稳定性和可靠性。

技术指标

Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)