德国 hp spectroscopy 集成式 NEXAFS 系统

特点

· 集成式台式 NEXAFS 光谱解决方案

· 无需申请并等待同步辐射机时

· 适用于地质、生物及材料研究的化学态分析

· 快速多色（）采集

同步辐射级别的谱图

· 能量范围 200 – 1200 eV

· 分辨本领高达 1900

· 极高的表面灵敏度

· 可获取分子轨道、氧化态及配位数等信息

· 配备光谱分析软件套件

应用

· 有机材料分析，例如脂质膜、腐殖酸、聚合物薄膜等，尤其适用于碳 K 吸收边区域

· 对 C、N、O、Ca、K、Ti等元素进行表面敏感的化学分析

聚酰亚胺薄膜（厚度 t = 200 nm）在碳 K 吸收边处的 NEXAFS 光谱，由台式系统测量并对 60 个脉冲进行平均。插图：用于对比的同步辐射测量 NEXAFS 光谱。（数据由 IFNANO 的 K. Mann 博士提供）

采用高可靠性的激光等离子体产生的 XUV 光源。能量范围200–1200eV，重复频率25Hz。

产品指标