MTSD-1C逆反射标志测量仪
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详细内容
一、概述
MTSD-1C型逆反射标志测量仪是一款适用于现场测量逆反射材料光度性能(逆反射系数R')的仪器。它是基于Windows CE操作系统下的控制平台,拥有32位高速处理器内核,人机对话界面,手提式光电仪器,操作方便,实用。
二、主要功能特性
1、超高集成度,完整的嵌入式结构;
2、LED背光,高清晰真彩数字屏,输出分辨率320×240,实时显示测量数据;
2、可预置参数,显示日期、时间等系统信息;
3、全中文菜单模式,方便使用;
4、自动调零和参数校验;
5、低功耗32位高速ARM芯片,500MHz主频;
6、系统内存为SDRAM 64MB、可随时查询检测记录。
三、技术条件
1、观测角(α):0.2°;
2、入射角(β):-4°;
3、光源:标准A光源,光源色温为2856K;
4、探测器:硅二极管(符合CIE的光谱光视效率函数V(λ));
5、显示器:LCD液晶显示屏;
6、逆反射系数测量范围:0~2000cd·lx-1·m-2;
7、数据存储约8000条;
8、电源:7.4V锂电池组;
9、充电时间:约6小时;
10、操作温度:0-50℃;
11、工作温度:-20℃到+70℃。
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