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山东霍尔德电子科技有限公司

第2年

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  • 反射膜厚仪
    反射膜厚仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    反射膜厚仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域,能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源..
    所在地:中国大陆    
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  • 反射膜厚测量仪
    反射膜厚测量仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    反射膜厚测量仪是一款又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜,测量误差小于1纳米,最快每秒可测100次,重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,..
    所在地:中国大陆    
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  • 光学膜厚仪
    光学膜厚仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    光学膜厚仪可测量,支持20nm超薄膜厚检测,准确度±1nm、重复精度0.05nm,满足精密检测需求,高速采样,最高采样速度100hz,适配产线快速检测,提升测量效率,宽光谱覆盖,采用氘卤组..
    所在地:中国大陆    
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  • 非接触式膜厚测量仪
    非接触式膜厚测量仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    非接触式膜厚测量仪采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。可测量,支持20nm超薄膜厚检测,准确度±1nm、重复精度0.05nm,满足精密检测需..
    所在地:中国大陆    
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  • 反射式光学膜厚仪
    反射式光学膜厚仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    反射式光学膜厚仪采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。强抗干扰性,高灵敏度元器件搭配抗干扰光学系统+多参数反演算法,复杂环境下测量稳定,灵活易..
    所在地:中国大陆    
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  • 半导体膜厚测试仪
    半导体膜厚测试仪
    型号:HD-FT50UV   参考价:¥咨询
    半导体膜厚测试仪采用双光源组合,覆盖紫外到红外全光谱,抗干扰能力强,在振动或复杂环境下也能稳定工作。强抗干扰性,高灵敏度元器件搭配抗干扰光学系统+多参数反演算法,复杂环境下测量稳定,灵活易..
    所在地:中国大陆    
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