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台式红外发射率测量仪
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品牌名称：$brandModel.Title型号： 原产地：中国大陆 更新时间：2026/11/11 10:03:29
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详细内容
产品特点 |
Ø测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射； |
Ø测量波段：单/双波段，3-5µm & 8-14µm； |
Ø台式设计：台式设计，实验室设备，稳定性更高； |
Ø数据记录：最近32条测量记录，EEPROM保存，方便进行测量对比； |
Ø通讯接口：RS-485数据传输接口，便于PC指令操作或记录数据。 |
产品应用 |
Ø主要面向实验室、科研机构、质量检测中心等需要高稳定性和长期连续测量。 |
Ø可用于教学，帮助学生理解红外发射率测量原理与应用。 |
技术指标
型号 | RLK656 | RLK656D |
测量原理 | 定向半球反射（DHR），光源20°±1°入射 | |
测量波段 | 3～5µm / 8～14µm | 3～5µm & 8～14µm |
工作模式 | 发射率 | |
测量范围 | 0 .01～0 .99 | |
重复性 | ≤0 .01 | |
显示分辨率 | 0.001 | |
测量时间 | ＜10秒 | |
预热时间 | ＜180秒 | |
试样要求 | 直径> 30mm，红外非透明 | |
显示屏 | 3 .5”TFT LCD触摸屏 | |
数据存储 | EEPROM，32条记录 | |
远程控制 | RS-485，指令控制 | |
供电方式 | 220VAC | |
工作温度 | -10℃~ +45℃,非冷凝 | |
存储温度 | -30℃~+65℃ | |
外形尺寸 | 320mm(L)*280mm(W)*200mm(H) | |
重量 | ≯4Kg | |
注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。
热门标签：红外发射率测量仪,发射率
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